Clocking in Modern VLSI Systems

Clocking in Modern VLSI Systems pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:
作者:Xanthopoulos, Thucydides (EDT)
出品人:
页数:348
译者:
出版时间:
价格:1498.00
装帧:
isbn号码:9781441902603
丛书系列:
图书标签:
  • VLSI
  • Clocking
  • Digital Design
  • Integrated Circuits
  • Timing Analysis
  • Semiconductor
  • Electronics
  • Computer Engineering
  • System Design
  • Modern VLSI
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具体描述

《时序驱动的现代集成电路设计:理论、方法与实践》 简介: 在当今快速发展的电子技术浪潮中,集成电路(IC)的设计正面临前所未有的挑战。随着摩尔定律的推进,晶体管密度不断攀升,设计复杂度呈指数级增长,而对性能、功耗和面积(PPA)的要求也愈发严苛。在这样的背景下,时序(Timing)——信号在电路中传播所需的时间——已不再是IC设计中的一个次要考量,而是决定整个芯片成败的关键要素。本书《时序驱动的现代集成电路设计:理论、方法与实践》旨在深入剖析现代VLSI(超大规模集成电路)设计中时序约束的本质,系统阐述从概念验证到最终流片过程中,如何有效地管理和优化时序,以实现高性能、低功耗的先进芯片。 本书并非一本浅尝辄止的时序入门读物,也不是一本专注于特定EDA(电子设计自动化)工具操作手册。相反,它是一部扎根于深厚理论基础,融合了前沿设计理念,并紧密结合实际工程实践的专业著作。本书的目标读者是具有一定数字电路设计基础的工程师、研究人员以及相关专业的硕博士研究生,希望能够帮助他们建立起对时序的全局性认知,掌握系统性的时序分析与优化策略,从而在实际工作中游刃有余,应对复杂的设计挑战。 核心内容概述: 本书的结构设计循序渐进,从基础理论的构建开始,逐步深入到高级的分析与优化技术,最终落脚于实际设计流程中的时序管理。 第一部分:时序基础与模型 在引言之后,本书将首先奠定坚实的时序理论基础。我们将从最基本的门延迟(Gate Delay)和线延迟(Wire Delay)概念讲起,深入探讨它们对信号传播的影响。读者将学习到如何理解和计算组合逻辑(Combinational Logic)和时序逻辑(Sequential Logic)中的关键路径(Critical Path)和非关键路径(Non-critical Path)。 时序的基本概念: 详细介绍Setup Time、Hold Time、Clock-to-Q Delay、Clock Skew、Clock Jitter等时序约束的含义及其对电路功能的影响。我们将用清晰的图示和严谨的数学模型来解释这些概念。 延迟模型: 深入分析各种延迟模型,包括线性延迟模型(Linear Delay Model)、ELT(Effective Leakage Threshold)模型以及更复杂的模型,理解它们在不同工艺节点下的适用性与局限性。 时钟树综合(Clock Tree Synthesis, CTS): 时钟信号是驱动时序的关键。本书将详细讲解CTS的原理,包括时钟抖动(Jitter)、时钟偏斜(Skew)的产生原因,以及各种CTS技术(如H-tree, buffer-tree)的优劣,以及如何通过CTS来最小化时钟不确定性。 时序约束的定义与重要性: 详细阐述如何精确地定义时序约束(SDC文件),包括时钟定义、输入输出延迟、多周期路径(Multi-cycle Path)、伪路径(False Path)等,理解这些约束对于时序分析引擎正确工作的至关重要性。 第二部分:静态时序分析(STA) 静态时序分析是现代VLSI设计中进行时序验证的核心手段。本书将对STA的原理、算法和应用进行全面而深入的探讨。 STA的基本原理: 介绍 STA 的工作机制,如何通过图论和传播算法来分析电路中的所有可能路径的时序。我们将详细讲解时序图(Timing Graph)的构建,以及如何利用它来查找最差时序情况。 时序报告的解读: 学习如何解读 STA 工具生成的详细时序报告,识别 Setup Violations 和 Hold Violations,理解 WNS(Worst Negative Slack)和 TNS(Total Negative Slack)等关键指标的含义。 时序分析的进阶话题: 探讨工艺变化(Process Variation)、电压变化(Voltage Variation)和温度变化(Temperature Variation)对时序的影响,以及如何在 STA 中考虑这些环境因素(PVT Corners)。 跨时钟域(Clock Domain Crossing, CDC)的时序: CDC 是一个普遍存在但又极易出错的设计环节。本书将详细分析 CDC 的挑战,介绍各种同步和异步 CDC 解决方案,以及如何对其进行时序分析和验证。 第三部分:时序优化技术 仅仅进行时序分析是不够的,有效的时序优化才是实现高性能设计的关键。本书将系统介绍各种在物理实现过程中常用的时序优化技术。 逻辑综合(Logic Synthesis)中的时序优化: 探讨在逻辑综合阶段,如何通过算法(如逻辑重定时(Logic Retiming)、门替换(Gate Sizing)、逻辑复制(Logic Replication))来改善时序。 布局布线(Place and Route, P&R)中的时序优化: 详细讲解在物理实现过程中,布局(Placement)和布线(Routing)对时序的影响。我们将介绍如何通过调整门的位置、优化布线策略(如最小化线延迟、优化buffer插入)来满足时序要求。 时序驱动的布局布线(Timing-Driven P&R): 深入研究时序驱动的 P&R 技术,包括如何利用时序信息指导布局器和布线器的工作,以及相关的算法和启发式方法。 高主频设计策略: 针对追求极致主频的设计,本书将探讨一些高级的时序优化策略,如流水线(Pipelining)、多周期路径的合理利用、时钟频率的划分等。 低功耗与时序的权衡: 在追求高性能的同时,功耗也是一个重要的考量。本书将讨论如何在时序优化过程中兼顾功耗,例如通过门控时钟(Clock Gating)、动态电压频率调节(DVFS)等技术。 第四部分:高级时序分析与验证 随着设计规模和复杂度的不断增加,对时序的验证也需要更精细化的手段。 功耗相关的时序分析(Power-Aware Timing Analysis): 探讨在不同功耗模式下,时序约束的变化,以及如何进行功耗相关的时序分析。 寄生参数提取(Parasitic Extraction)与时序: 详细介绍寄生参数提取(RCS、LVS)在时序分析中的作用,理解提取精度对时序结果的影响。 可靠性相关的时序分析(Reliability-Aware Timing Analysis): 探讨衬底噪声(Substrate Noise)、IR Drop、EM(Electromigration)等对时序可能造成的影响,以及相关的分析方法。 高级时序验证流程: 总结一套完整的时序验证流程,包括如何进行多层级的时序检查,以及如何与验证团队协同工作。 第五部分:实践与案例研究 理论联系实际是本书的另一大特色。本书将包含一些经过提炼和抽象的工程实践案例,展示如何在实际设计项目中应用书中介绍的时序理论和方法。 常见时序问题的诊断与解决: 通过分析一些典型的时序问题,演示如何快速定位根本原因并提出有效的解决方案。 工艺迁移(Technology Migration)中的时序挑战: 讨论在从一个工艺节点迁移到另一个工艺节点时,时序设计所面临的特殊挑战和应对策略。 高性能处理器、SoC 等复杂设计的时序案例分析: 选取具有代表性的复杂芯片设计,剖析其时序设计的关键点和优化难点,为读者提供宝贵的工程经验。 本书的特色: 理论深度与实践广度并重: 既有严谨的数学模型和理论推导,又充分考虑了工业界的实际设计流程和挑战。 系统性与全面性: 涵盖了从基础概念到高级验证的整个时序设计链条,力求为读者提供一个完整而系统的知识框架。 以问题为导向: 许多章节的设计都围绕着解决实际工程中遇到的时序难题展开,使读者能够学以致用。 清晰的图示与丰富的示例: 通过大量精心设计的图示、表格和伪代码,直观地展示抽象的概念和复杂的算法。 对前沿技术的关注: 适时引入了如AI在时序分析中的应用,以及新兴工艺节点下的时序挑战等内容,保持技术的先进性。 结论: 《时序驱动的现代集成电路设计:理论、方法与实践》将是您在现代VLSI设计领域,尤其是时序设计方面,不可或缺的参考资料。本书将帮助您深入理解时序的本质,掌握行之有效的时序分析与优化工具,最终实现卓越的芯片性能。无论您是正在为提高芯片主频而苦恼,还是希望更精细地管理芯片的功耗与面积,本书都将为您提供宝贵的指导和深刻的启示。通过阅读本书,您将能够更自信、更高效地应对现代集成电路设计中的时序挑战,为您的职业生涯增添重要的技术竞争力。

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