极限配合与技术测量基础课教学参考书 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

简体网页||繁体网页

☆☆☆☆☆

出版者:

作者:杨昌义

出品人:

页数:0

译者:

出版时间:

价格:10.00元

装帧:

isbn号码:9787504563286

丛书系列:

图书标签:

• 机械工程
• 测量技术
• 极限配合
• 技术测量
• 教学参考书
• 机械制图
• 公差配合
• 精度工程
• 装配技术
• 基础课程

精度与制造的基石：现代工程测量与公差配合技术精讲 本书聚焦于现代制造业、机械设计与精密加工领域中不可或缺的核心知识体系——公差配合理论、几何尺寸与形位公差（GD&T）的精确应用，以及与之紧密关联的计量与检测技术。它旨在为工程技术人员、设计工程师以及质量控制专家提供一套系统、深入且极具实践指导意义的参考资料，以确保产品在设计、制造和装配过程中的可靠性和互换性。 --- 第一部分：公差配合理论的深化理解与应用 本部分将理论与实际案例紧密结合，全面解析尺寸链与配合系统的设计原则。 1.1 尺寸、公差与配合的系统回顾与进阶 尺寸体系的层次结构： 从基本尺寸、极限尺寸到实际尺寸的精确定义，以及在不同标准（如ISO、ANSI/ASME）下的量值表示方法。 公差带的几何特性： 深入探讨单向公差与双向公差的计算，以及公差带在二维和三维空间中的空间分布规律。重点分析对称、非对称公差带对零件加工难度的影响。 标准配合的选用与优化： 详细讲解孔系与轴系基准制度的选择逻辑。不仅限于查表，更深入探讨在特定工作条件（如高温、高压、高精度对中）下，如何通过微调配合选择，实现性能与成本的最佳平衡。 过盈、间隙与过渡配合的判据： 通过概率统计方法分析配合的实际松紧度分布，引入“配合的可靠性”概念，指导工程师在高风险装配中如何通过收紧公差来保证功能要求。 1.2 尺寸链的分析与误差传递 尺寸链的构成与分类： 封闭尺寸链与开口尺寸链的建立方法，区分直接与间接尺寸链。 极限法与概率法的应用： 对线性尺寸链进行极限值计算，并重点讲解在考虑零件数量较多、公差较小时，应用最小二乘法或标准差法进行概率计算，以预测装配体的整体性能范围，避免过度设计。 误差的传递与累积： 详细分析复杂机械结构中多级配合导致的误差放大效应。提供矩阵分析法辅助判断关键尺寸链的敏感度，从而指导设计者将严格公差分配给对功能影响最大的环节。 --- 第二部分：几何尺寸与形位公差（GD&T）的规范化实施 几何尺寸与形位公差是现代精密制造的“通用语言”。本部分以最新的国际标准（如ISO 1101:2017/ASME Y14.5M）为蓝本，提供详尽的图解与应用指南。 2.1 形位公差的基础概念与符号解读 基准的建立与逻辑： 深入解析基准特征的选取原则，包括“1-2-3”基准顺序、理论最小包容体（Min-Max Principle）以及组合基准的构建。强调基准的确定必须遵循“设计意图”和“测量可实现性”。 定位公差的全面解析： 位置度（Position Tolerance）： 重点区分从零点（MMC/LMC）测量的位置度与独立位置度。解析其在孔、轴中心定位中的应用，以及如何利用“包容原则”简化装配过程。 轮廓度与对称度： 结构件表面质量控制的关键，解析其在评价自由曲面和旋转对称件时的应用场景。 同轴度与圆跳动： 针对旋转部件（轴承、齿轮箱）的精度要求，详细阐述静止状态下的圆跳动（Runout）与旋转状态下的同轴度要求。 2.2 形状与方向公差的精细控制 形状公差的精确控制： 直线度、平面度与圆度。特别关注在大型结构件中，平面度公差如何与支撑基准交互作用，影响零件的受力均匀性。 方向公差的相互关系： 平行度、垂直度与角度公差。讲解如何通过调整基准和公差值来平衡不同表面之间的相对角度误差，确保运动机构的顺畅啮合。 2.3 建立在功能之上的公差设计（GD&T与配合的融合） 包容原则（Envelope Principle）的威力： 阐释包容原则如何允许在制造过程中放松对特定几何特征的控制，只要该特征仍能与具有最大材料条件的零件顺利装配，从而有效降低制造成本。 公差的传递与累积在GD&T中的体现： 分析多重形位公差链（如多个孔的位置度累积）对最终装配精度的影响，并提供公差分配的量化方法。 --- 第三部分：精密测量的原理、方法与质量控制 理论设计必须通过可靠的测量手段进行验证。本部分侧重于现代计量器具的选择、使用规范及不确定度分析。 3.1 计量学基础与误差分析 测量系统的特性： 深入解析测量仪器的系统误差与随机误差。重点探讨测量设备的精度、分辨率、灵敏度与漂移的控制。 不确定度评定（GUM原则）： 采用国际认可的A类和B类评定方法，指导工程师如何科学地计算和报告测量结果的合成不确定度，这是进行合格判定（Pass/Fail Decision）的科学依据。 校准与溯源体系： 建立符合ISO/IEC 17025要求的计量器具管理流程，确保所有测量数据均可追溯至国家或国际标准。 3.2 接触式与非接触式测量技术 三坐标测量机（CMM）的高级应用： 不仅限于坐标点的采集，更深入讲解CMM在扫描测量、特征拟合以及形位公差自动评定中的高级编程技巧（如DMIS语言基础）。强调接触式测量的探针补偿与系统误差消除。 光学与激光测量技术： 解析轮廓仪、激光跟踪仪和视觉测量系统在柔性制造和大型结构检测中的优势。讨论非接触测量在速度和无损性方面的优势，以及如何处理反射率和环境因素导致的测量偏差。 3.3 过程控制与统计质量保证（SQC） 计量设备的使用与维护： 详细介绍量规（如塞规、卡尺、千分尺）的正确使用规范，以及为避免人为误差和设备磨损所必需的周期性检查。 统计过程控制（SPC）在公差控制中的应用： 引入$ar{X}-R$控制图、P图和C图等工具，实时监控生产过程的稳定性。讲解如何通过过程能力指数（$C_p$和$C_{pk}$）评估当前制造水平是否能满足既定的公差要求，并及时采取工艺调整措施。 --- 结论与展望 本书是连接“设计蓝图”与“合格产品”之间不可或缺的技术桥梁。通过对公差配合、GD&T规范的深入剖析，结合现代计量技术的严格要求，读者将能够： 1. 优化设计表达： 撰写出清晰、无歧义且易于制造和测量的工程图纸。 2. 提升制造效率： 科学分配公差，避免在不关键的维度上过度投入昂贵的加工成本。 3. 确保产品质量： 建立基于科学不确定度分析的质量判定标准，提高首件合格率和产品互换性。 本书内容紧密结合当前工业4.0和智能制造对高精度测量的迫切需求，是工程师追求制造卓越的必备工具书。

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆