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出版者:Taylor & Francis

作者:Goodhew, P. J./ Humphreys, John/ Beanland, Richard/ Humphreys, F. J.

出品人:

頁數:254

译者:

出版時間:2000-11

價格:$ 81.30

裝幀:Pap

isbn號碼:9780748409686

叢書系列:

圖書標籤:

英語
Electron Microscopy
Transmission Electron Microscopy
Scanning Electron Microscopy
Microscopy
Materials Science
Nanomaterials
Analytical Techniques
Microstructure
Electron Diffraction
Image Analysis

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具體描述

The new edition of this comprehensive introductory text has been extensively revised and up-dated. It provides a readable guide to scanning and transmission microscopes and to the analytical techniques based on them. The techniques of electron energy loss spectroscopy and energy dispersive X-ray analysis are given detailed coverage. Electron microscopic techniques are compared to many of the competing physical investigative techniques now available. The text is liberally illustrated and now incorporates questions and answers with each chapter. Already an established laboratory manual, this edition will be essential reading for both the materials scientist and the bioscientist.

《Electron Microscopy and Analysis》是一本旨在為讀者提供全麵而深入瞭解電子顯微鏡及其分析技術的資源的書籍。這本書係統地介紹瞭電子顯微鏡的工作原理，包括光學與電子相互作用的基本理論，詳細描述瞭不同類型的顯微設備從透射電顯微鏡到掃描電子顯微鏡的結構和操作模式。通過豐富的圖示和實驗案例，這本書幫助讀者深入理解電子顯微鏡如何在科學研究和工業檢測中發揮關鍵作用。內容覆蓋瞭從初學者入門的基礎知識，到高級技術應用，再到具體分析流程的詳細解析。這些章節特彆注重實驗操作的指導，使用戶能夠準確掌握顯微鏡的校準方法、圖像采集技巧以及數據處理方法。書中還介紹瞭各種電相差顯微鏡、掃描隧道顯微鏡等高端設備的原理和應用，使讀者不僅能理解電子顯微鏡的理論基礎，更能在實際操作中靈活運用這些知識。此外，《Electron Microscopy and Analysis》還特彆強調瞭顯微分析中的問題解決能力培養，通過真實案例展示瞭如何利用這些技術進行組織結構、材料成分等多方麵的深入研究。這一書不僅適閤專業科研人員和工程技術從業者，也對那些希望拓展自身知識體係並提升實驗技能的人群具有極高的參考價值。這本書注重內容的全麵性與實用性，精心設計瞭每個章節的學習路徑，使讀者在逐步深入的過程中能夠建立紮實的理論基礎和實際操作能力。通過對電子顯微鏡各類技術手段的係統探討，讀者將獲得對該領域的全方位認知。書中還特彆強調瞭對現代科學研究和工業檢測中高分辨率成像需求的迴應，為讀者提供瞭寶貴的學習素材和實踐指南。在結構設計上，這本書采用清晰的遞進式教學方式，從基本概念過渡到復雜技術應用，每一部分都經過精心編排，以幫助讀者逐步提升理解和應用能力。這種方法不僅增強瞭內容的可讀性，更讓學習過程充滿係統性。書中還提供瞭大量的實驗案例與圖錶分析，使用戶能夠從實踐中汲取經驗，提高自己的科研水平。總體而言，《Electron Microscopy and Analysis》是一部內容詳盡、結構嚴謹的高級科普與培訓書籍，特彆適閤那些希望深入探索電子顯微鏡技術及其應用的人。這本書不僅豐富瞭讀者的知識儲備，更為科學研究和實際工程提供瞭堅實的工具和參考。通過持續學習與實踐，這位讀者將能夠在相關領域中脫穎而齣，獲得更高效的工作能力和創新思維。