Infared Technology And Applications 31

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出版者:Society of Photo Optical
作者:Andersen, Bjorn F.
出品人:
页数:978
译者:
出版时间:
价格:170
装帧:Pap
isbn号码:9780819457684
丛书系列:
图书标签:
  • 红外技术
  • 红外应用
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具体描述

好的,这是一份关于《先进材料的微观结构与性能表征》的图书简介,其内容与《Infared Technology And Applications 31》完全无关,并力求详实和专业。 --- 图书简介:先进材料的微观结构与性能表征 一、 导言:理解物质世界的桥梁 在当代科学与工程领域,材料是构建一切的基础。从微观的半导体器件到宏观的航空航天结构,材料的性能决定了最终产品的可靠性、效率和寿命。然而,材料的宏观性能——强度、导电性、耐腐蚀性等——无不深刻地根植于其内部的微观结构:原子排列、晶界形态、缺陷分布以及相界面特征。 《先进材料的微观结构与性能表征》是一部旨在系统梳理和深入探讨如何“看见”和“理解”材料内部世界的权威专著。本书突破了传统材料科学教材中对单一表征技术的简单罗列,而是聚焦于如何构建结构-性能-制备之间的完整逻辑链条。我们致力于为材料科学家、工程师、研究人员以及高年级本科生和研究生提供一套全面的方法论,用以精确解析复杂先进材料的精细结构,并建立起坚实的定量联系。 本书的撰写基于对过去二十年材料表征技术最新进展的深刻洞察,特别强调了多尺度分析和原位(In-situ)/4D表征技术在解决前沿科学问题中的关键作用。 二、 核心内容模块划分 本书内容结构严谨,逻辑递进,共分为六大部分,涵盖了从基础理论到尖端应用的完整知识体系。 第一部分:微观结构表征的理论基础与尺度效应 本部分奠定了理解后续技术的基础。它详细阐述了材料结构在不同尺度上的定义(原子级、纳米级、微米级、宏观级)以及它们之间的相互转化关系。 1. 晶体结构与缺陷理论回顾: 深入探讨点缺陷、线缺陷(位错)、面缺陷(晶界、堆垛层错)的能量学和动力学特征,及其对塑性、电学性质的初始影响。 2. 统计学与图像分析: 强调数据驱动的表征方法。介绍图像处理中的降噪、分割、特征提取(如晶粒度分布、取向分布函数ODF)的统计学严谨性,为后续定量分析打下基础。 3. 尺度效应与多尺度建模: 讨论如何将从高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)获取的原子信息,通过分子动力学(MD)模拟或晶体塑性有限元(CPFEM)方法,有效地桥接到宏观工程性能的预测中。 第二部分:电子显微学:解析纳米尺度形貌与晶体学 电子显微技术是理解材料微观结构的核心支柱。本书对扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)进行了前所未有的深度剖析,侧重于现代高通量、高分辨技术的应用。 1. 高分辨率透射电镜(HRTEM)与像差校正(Aberration Correction): 不仅介绍成像原理,更详细阐述如何利用像差校正技术清晰分辨原子列、确定晶格常数、分析界面原子重构,并辨识亚纳米尺度的应变场。 2. 电子背散射衍射(EBSD)的深度应用: 重点讲解EBSD数据的高级处理技术,包括晶粒取向、晶界几何参数的精确重建、变形演化路径的追踪,以及如何利用EBSD-SEM联用分析材料的表面形貌与内部织构的耦合关系。 3. 能量/波长色散X射线谱学(EDS/WDS)与化学态分析: 阐述如何通过元素定量分析和谱图解析,识别第二相析出物、评估成分偏析,并结合电子能量损失谱(EELS)进行价态和化学键合态的深度探究。 第三部分:光谱学与散射技术:探寻化学键合与电子结构 本部分聚焦于利用光与物质的相互作用来获取化学成分和电子能级的详细信息,这些信息是预测材料功能特性的关键。 1. 拉曼光谱与红外吸收光谱(非本书核心主题的拓展应用): 详细介绍拉曼技术在识别晶型转变、应力分析以及分析二维材料缺陷态方面的强大能力。 2. X射线光电子能谱(XPS)与俄歇电子能谱(AES): 深入探讨这些表面敏感技术如何精确测定材料表面几纳米内的元素价态和化学环境,这对于催化剂、腐蚀层或表面涂层的研究至关重要。 3. 小角X射线散射(SAXS)与中子/同步辐射散射: 论述如何利用大尺度散射技术来表征纳米颗粒尺寸分布、孔隙率、聚合链构象,以及在原位反应条件下材料结构的长程有序性变化。 第四部分:力学性能的原位与同步表征 理解材料在真实服役条件下(受力、加热、腐蚀)的微观响应是工程应用的核心挑战。 1. 原位拉伸/压缩-TEM联用技术: 详细描述如何捕获位错的产生、滑移、缠结过程,实时观测裂纹萌生与扩展的原子尺度机制。 2. 原位X射线衍射(XRD)研究相变: 阐述如何利用高能同步辐射X射线,在高温、高压或应力作用下实时监测晶格常数的微小变化、相变动力学以及应力弛豫过程。 3. 原子力显微镜(AFM)的动态力学分析: 介绍纳米压痕技术(Nanoindentation)结合力学成像,用于精确测量特定晶粒或界面的局部硬度和弹性模量。 第五部分:热学、电学及磁性性能的结构依赖性 先进功能材料的性能往往与其特殊的微观结构紧密耦合。本部分探讨如何利用特定表征手段揭示这些耦合关系。 1. 热力学驱动的形貌演化: 结合差示扫描量热法(DSC)和热重分析(TGA)数据,解读微结构(如晶粒粗化、薄膜应力释放)在温度梯度下的演变机制。 2. 电输运性能的各向异性: 探讨如何通过单晶制备和同步的四点探针测量,结合TEM织构分析,确定载流子迁移率与晶体取向的关系,这在磁性隧道结和新型电池电极材料中至关重要。 第六部分:数据融合与人工智能在表征中的前沿应用 展望未来,材料表征正走向数据密集型科学。本部分强调了跨学科工具的重要性。 1. 多模态数据融合: 提出一套将来自SEM、EBSD、EDS和计算模拟的数据集进行配准和融合的方法论,以构建更完整的材料“数字孪生”模型。 2. 机器学习(ML)辅助的微结构识别: 介绍如何利用深度学习算法自动识别复杂TEM图像中的晶界类型、缺陷特征,从而极大提高高通量实验的数据处理效率和客观性。 三、 适用读者对象 本书适合于材料科学、物理学、化学、机械工程、电子工程等专业领域的高级本科生、研究生、博士后研究人员,以及致力于材料开发、质量控制和失效分析的工业研发人员。掌握本书内容,将使读者能够自信地选择、执行并解释最合适的表征技术,从而加速新材料的发现与优化进程。 ---

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