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Stress-induced Phenomena in Metallization pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025

Stress-induced Phenomena in Metallization
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Ogawa, Shinichi (EDT)/ Ho, Paul S. (EDT)/ Zschech, Ehrenfried (EDT)
2007-11
212
$ 111.87
9780735404595

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发表于2025-03-17

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图书描述

The conference was on reliability related science in ULSI interconnect. Its main purpose was to discuss the stress induced phenomena in the LSI interconnect among academic researchers and industry engineers to establish academic science and to improve the reliability of ULSI chips. All papers were peer reviewed.

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