开关电源外围元器件选择与检测

开关电源外围元器件选择与检测 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:
作者:
出品人:
页数:349
译者:
出版时间:2009-5
价格:23.00元
装帧:
isbn号码:9787508386829
丛书系列:
图书标签:
  • jian
  • dan
  • 开关电源
  • 外围元器件
  • 选择
  • 检测
  • 电路设计
  • 电子工程
  • 电源技术
  • SMPS
  • 元器件应用
  • 故障排除
想要找书就要到 小哈图书下载中心
立刻按 ctrl+D收藏本页
你会得到大惊喜!!

具体描述

《开关电源外围元器件选择与检测》内容丰富,深入浅出,通俗易懂。具有科学性、先进性与很高的实用价值,可供电子和电气工程技术人员,仪器仪表及家电维修人员,大专院校师生及电子爱好者阅读。目前开关电源正向集成化、智能化、模块化的方向发展。正确选择与检测外围元器件,是设计、制作集成开关电源的基础和保证。《开关电源外围元器件选择与检测》从实用角度出发,全面、系统、深入地阐述了开关电源各种外围元器件的工作原理、在开关电源中的典型应用、选择方法、检测技巧及测量注意事项。其中,既有基础类元件,也有大量的新型电子元器件。此外,还详细介绍了常用检测仪器仪表的选择及使用注意事项。

《数字电路设计与应用:从基础原理到系统实现》 内容简介 本书旨在为电子工程、自动化、计算机科学等相关专业的学生及工程师提供一本全面、深入、实用的数字电路设计与实现教程。全书内容紧密围绕现代数字系统所需的核心理论、关键技术和实践应用展开,涵盖了从最基本的逻辑门到复杂可编程逻辑器件(FPGA)的系统级设计流程。 第一部分:数字逻辑基础与组合电路分析 本书伊始,我们将深入探讨数字逻辑的基石——数制、编码与布尔代数。详细阐述了二进制、八进制、十六进制之间的转换,以及BCD码、格雷码等常用编码方式的特性与应用。布尔代数部分不仅涵盖了基本公理和定理,更侧重于逻辑函数的化简方法,重点介绍使用卡诺图(Karnaugh Map)进行三变量、四变量及五变量函数的精确化简,并引入了Quine-McCluskey算法的原理,为处理复杂函数奠定理论基础。 组合逻辑电路是数字系统的核心功能模块。本部分将详细解析各类基本逻辑门(与、或、非、异或等)的物理特性和逻辑功能,进而构建加法器、减法器、乘法器等算术逻辑单元。重点讲解了全加器、多位加法器的串行与并行结构,以及优先编码器、译码器和数据选择器(MUX/DEMUX)在数据路由与控制中的关键作用。通过大量的实例分析,读者将理解如何使用这些标准逻辑芯片搭建高效的数据处理通路。 第二部分:时序逻辑电路与状态机设计 时序逻辑是实现数字系统记忆功能和顺序控制的基础。本章首先聚焦于锁存器(Latch)和触发器(Flip-Flop)的建立时间、保持时间、延迟时间等关键参数,并对比分析了SR、D、JK和T型触发器的特性与应用场景。特别强调了主从结构和边沿触发技术的原理。 在此基础上,本书系统性地介绍了同步时序逻辑的设计方法。循环移位寄存器、计数器(异步、同步、环形、Johnson计数器)的设计与优化是本节的重点。更重要的是,我们将深入探讨有限状态机(FSM)的设计理论,详细讲解摩尔(Moore)模型和米利(Mealy)模型的状态图绘制、状态编码(如格雷码编码以减少竞争冒险)和状态表构建。通过对复杂控制器(如交通灯控制器、序列检测器)的案例分析,读者将掌握从需求分析到硬件描述语言(HDL)实现的完整流程。 第三部分:半导体存储器与可编程逻辑器件(PLD) 现代数字系统离不开高速存储器。本书对半导体存储器的分类进行了全面梳理,包括SRAM和DRAM的工作原理、存储单元结构、读写时序规范。同时,探讨了存储器扩展(地址译码与数据位扩展)的技术。 可编程逻辑器件(PLD)是实现自定义数字电路的强大工具。本部分将详细介绍PROM、PAL、GAL等经典PLD器件的结构和编程方式。随后,我们将重点转向主流的可编程逻辑器件——FPGA。本书将简要介绍FPGA的基本结构(查找表LUT、触发器、布线资源),为后续使用HDL进行高层次综合打下基础。 第四部分:硬件描述语言(HDL)与数字系统综合 为适应现代电子设计流程,本书将VHDL或Verilog语言作为实现数字电路的载体。选定其中一种语言(例如Verilog),系统讲解其基础语法结构、数据类型、行为级建模(`always`块、过程赋值)和结构级建模(实例化、连接)。 重点在于如何使用HDL来精确描述组合逻辑和时序逻辑,包括如何描述异步逻辑和同步逻辑,以及如何有效利用HDL进行自顶向下或自底向上的设计。随后,本书将讲解综合(Synthesis)的原理,解释逻辑优化器如何将HDL代码转化为实际的门级网表,并强调设计约束(Timing Constraints)在实现高性能电路中的重要性。 第五部分:数字系统接口与高速信号完整性基础 为使设计的数字电路能够与外部世界交互,本部分讨论了常见的输入/输出(I/O)接口电路,如TTL和CMOS逻辑系列的电气特性比较、电平标准转换(如LVTTL到LVCMOS)。 此外,鉴于现代数字系统的工作频率越来越高,信号完整性(Signal Integrity, SI)成为不可忽视的设计环节。本章将引入传输线理论基础,讲解反射、串扰、终端匹配等现象的物理根源。虽然不深入到复杂的电磁场分析,但会提供实用的设计准则,例如走线长度控制、差分对设计以及电源完整性的基本概念,帮助工程师设计出可靠的高速数字系统。 适用对象 本书适合作为高等院校电子信息工程、微电子学、自动化、计算机工程等专业本科生或研究生《数字电子技术》、《数字系统设计》等课程的教材或参考书。同时,对于需要快速掌握数字电路设计流程、提升FPGA/ASIC设计能力的在职工程师而言,也是一本极具价值的实践指南。本书强调理论与实践的紧密结合,注重培养读者分析和解决实际工程问题的能力。

作者简介

目录信息

读后感

评分

评分

评分

评分

评分

用户评价

评分

我对这本书的评价是,它在结构编排上显得非常松散,缺乏一条清晰、逻辑严密的进阶主线。我希望看到的是一个从低功率到高功率、从线性调节到开关拓扑的层层递进的元件选择逻辑,但这本书的内容似乎是随机拼凑起来的。比如,它可能突然插入一小节关于电解电容的等效串联电阻(ESR)的讨论,紧接着又跳回到对快恢复二极管反向恢复电荷(Qrr)的机械式介绍。这种跳跃式的叙述方式,使得读者很难将各个元件的特性有机地联系起来,形成一个整体的系统观。例如,作者在讨论输入级电容时,没有明确指出输入电容的纹波电流承受能力主要受哪些因素制约,以及这个电流值是如何根据电源的峰值输入功率和开关频率直接计算出来的。再者,书中对于如何利用仿真工具(如Spice或更专业的磁性元件设计软件)来辅助元器件选型的部分完全缺失,这在现代电子设计流程中简直是不可想象的疏忽。这本书的内容停留在“手册式”的描述阶段,远远达不到“工程指导”的层次,更像是一份陈旧的产品目录的文字注释版。

评分

坦白讲,我购买这本书的初衷是希望它能提供一些关于**极端条件**下元器件的选型经验。比如,在航空航天或军工领域,面对-55°C的低温启动和+125°C的高温运行环境,那些标称值看似合格的电容和MOSFET,其关键参数(如阈值电压、电容温度系数、导通电阻的温漂)会发生剧烈变化。我期待书中能有专门的章节来分析这些温度和老化对元器件可靠性的影响,并提供相应的降额设计准则。然而,这本书几乎完全忽略了可靠性工程这一维度。它对元件的讨论仅仅局限于室温下的数据手册参数。例如,在选择续流二极管时,书中没有讨论在高温工作点下,其正向压降的增加会导致效率下降多少,也没有探讨如何通过选择SiC器件来规避传统硅基二极管在高频下的开关损耗问题。这种对实际工作环境复杂性的漠视,使得书中的选型建议显得空泛且不切实际。它似乎是基于一个假设:所有元器件都能在理想状态下完美运行,这与现实世界的电源设计格格不入。

评分

这本书在“检测”方法的论述上,尤其缺乏现代化的视角。在当今的电源开发流程中,除了基础的电气性能测试外,更重要的是对EMI/EMC性能的深入剖析和对瞬态行为的捕捉。这本书对“检测”的理解似乎还停留在上个世纪的仪器水平。它没有提及如何使用高带宽的差分探头来精确测量开关节点(SW Node)的电压过冲和振铃现象,也没有指导读者如何设置示波器触发条件来稳定捕获罕见的软开关失效模式。更关键的是,关于电源的“健康度”评估,书中完全缺失了对寿命预测和早期失效分析(Early Failure Analysis)相关元器件检测方法的探讨。例如,如何通过精确测量电解电容的等效串联阻抗(ESZ)随时间的变化来预警其寿命,或者如何利用先进的半导体参数分析仪来评估功率器件的动态特性退化。总而言之,这本书提供的检测手段过于基础和静态,完全不能满足当前对电源产品高可靠性、高动态性能的测试要求。读完后,我感觉自己掌握的依旧是检查灯泡亮不亮的方法,而不是诊断精密仪器的复杂故障。

评分

这本号称是关于“电源外围元器件选择与检测”的书籍,我本期待能从中找到一些关于如何根据具体应用场景(比如高频开关、低噪声输出、或者极端温度环境)来精挑细选电容、电感、MOSFET以及二极管的实用指南。然而,阅读体验远低于预期。书中对于元件参数的讲解似乎停留在教科书的基础层面,比如如何计算容值、如何区分MOS管的导通电阻与阈值电压,这些在任何一本基础的电子学教材里都能找到更详尽的阐述。更令人失望的是,在“选择”这一关键环节,作者的论述显得非常笼统和保守。例如,在讨论输入滤波电容时,书中反复强调使用钽电容或低ESR的电解电容,却鲜有深入分析在当前主流的陶瓷电容(MLCC)技术飞速发展的背景下,如何平衡其高频特性与体积的优势,也没有给出清晰的步骤来指导读者如何根据开关频率和纹波要求来匹配不同介质的电容。至于“检测”部分,内容更是浅尝辄止,基本停留在万用表测电阻、测二极管正反向压降的层面,完全没有触及到针对开关电源特定元器件的高级故障诊断技巧,例如如何使用示波器判断功率MOSFET的米勒平台异常、如何检测变压器漏感对环路的影响,或者如何通过波形分析来定位瞬态抑制器(TVS)的失效迹象。这本书与其说是针对电源工程师的实战手册,不如说更像是一本给初学者的元件名词解释词典。

评分

说实话,翻开这本书,我本以为会看到一幅描绘现代开关电源复杂拓扑结构下,元器件选型权衡取舍的宏大蓝图,特别是面对日益严苛的能效标准和尺寸限制,工程师们如何在电感饱和电流、磁芯损耗、以及散热设计之间走钢丝的实战案例。遗憾的是,该书在深度上明显不足,很多关键的“痛点”问题完全没有被触及。比如,它几乎没有提及如何处理高频共模噪声的滤波元件布局策略,这对于设计EMC合格的电源至关重要。关于磁性元件的选择,书中只是简单罗列了几个磁芯材料的特性曲线,却未能深入探讨铁氧体材料在不同工作磁通密度下的磁导率漂移对输出稳定性的长期影响。更别提那些实际工程中经常遇到的难题,比如如何根据实际的负载瞬态响应曲线来确定最优的补偿网络参数,从而平衡稳定性和快速恢复时间。书中的示例电路似乎都采用了某种理想化的模型,完全脱离了实际PCB走线带来的寄生电感和电容干扰。如果你指望这本书能帮你解决一个棘手的电源设计问题,让你在下一轮项目评审中胸有成竹,那恐怕要大失所望了。它的价值更多地体现在对基础概念的重复阐述上,对于有一定经验的设计师而言,价值非常有限。

评分

评分

评分

评分

评分

本站所有内容均为互联网搜索引擎提供的公开搜索信息,本站不存储任何数据与内容,任何内容与数据均与本站无关,如有需要请联系相关搜索引擎包括但不限于百度google,bing,sogou

© 2026 qciss.net All Rights Reserved. 小哈图书下载中心 版权所有