光電檢測技術與係統

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頁數:292
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出版時間:2009-6
價格:32.00元
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isbn號碼:9787121087196
叢書系列:
圖書標籤:
  • 理數
  • 已有
  • 光電檢測
  • 光電檢測
  • 傳感器
  • 光電器件
  • 檢測技術
  • 係統設計
  • 信號處理
  • 精密測量
  • 自動化
  • 儀器儀錶
  • 光學工程
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具體描述

《光電檢測技術與係統(第2版)》內容全麵,敘述簡明扼要,既重視理論性,也講究實用性。可作為信息工程類理工科本科生、研究生的教材,也可供相關領域科技工作者參考。綜閤利用近代各種先進技術,采用光電方法對多種光的、非光的物理量進行檢測是光電檢測技術的基本內容。全書從基本原理到工程應用,係統地介紹瞭光電檢測技術的組成,主要組成部分的功能、實際應用和當前發展的情況。主要內容包括:光電檢測技術基礎、光源及輻射源、光電探測器及其校正技術、光學係統及專用光學元件、光電信號的變換及檢測技術、光縴技術及應用、非光物理量的光電檢測、現代光電檢測技術與係統。

現代電子信息工程中的關鍵技術:集成電路設計與製造 圖書簡介 隨著信息技術的飛速發展,集成電路(IC)已成為現代電子設備的心髒和大腦。從智能手機、計算機到航空航天、汽車電子,幾乎所有高科技産品都離不開高性能、低功耗的集成電路。本書旨在為電子信息工程、微電子學、通信工程等相關專業的學生及工程技術人員,提供一套全麵、深入且與時俱進的集成電路設計與製造技術知識體係。 本書內容涵蓋瞭集成電路從概念設計到最終製造的全流程,重點關注當前行業內最為關鍵和前沿的技術點。全書結構嚴謹,邏輯清晰,力求理論與實踐緊密結閤,幫助讀者構建紮實的專業基礎,並掌握解決實際工程問題的能力。 第一部分:集成電路基礎與器件物理 本部分為後續高級內容奠定理論基礎,深入剖析瞭構成現代集成電路的基本單元——半導體器件的物理特性和工作原理。 1. 半導體物理基礎迴顧 係統迴顧瞭半導體材料的能帶理論、載流子輸運機製(漂移與擴散),以及PN結的基本特性。重點闡述瞭雜質摻雜對半導體電學性能的影響,為理解MOSFET的運行機製做鋪墊。 2. MOSFET(金屬氧化物半導體場效應晶體管)原理 這是現代數字和模擬電路的基石。本書詳細分析瞭增強型和結型MOSFET的結構、工作區(截止區、綫性區、飽和區)的電學特性麯綫。特彆關注瞭溝道長度調製效應、亞閾值導通現象以及閾值電壓的精確控製技術,如柵氧化層厚度和摻雜濃度的設計對器件性能的影響。 3. 先進器件結構與挑戰 隨著摩爾定律的推進,傳統平麵MOSFET已接近其物理極限。本章深入探討瞭應對短溝道效應的解決方案,包括: SOI (Silicon-On-Insulator) 結構:分析其寄生電容降低和抗閂鎖效應的優勢。 FinFET (鰭式場效應晶體管):詳細解析其三維結構如何實現對溝道更優的靜電控製能力,是當前主流先進製程的關鍵技術。 隧道場效應晶體管 (TFET):探討其突破玻爾茲曼限製,實現更低亞閾值擺幅(SS)的潛力。 第二部分:CMOS集成電路設計與工藝兼容性 本部分將理論知識轉化為實際設計能力,聚焦於CMOS(互補金屬氧化物半導體)技術的應用,這是當前大規模集成電路(LSI/VLSI)的主流技術。 4. 標準CMOS器件模型與參數提取 介紹如何使用SPICE等仿真工具中的半導體模型(如BSIM模型)來精確描述晶體管的非理想行為。討論瞭工藝角(PVT:工藝、電壓、溫度)變化對器件參數的顯著影響,以及設計時必須考慮的裕度。 5. 亞納米工藝設計規則與版圖(Layout) 隨著特徵尺寸的縮小,設計規則(DRC)變得極為復雜。本章詳述瞭先進工藝節點(如10nm、7nm及以下)的光刻(Lithography)、刻蝕(Etching)等關鍵製造步驟對版圖設計提齣的限製,如最小綫寬、間距、多重曝光(LELE/SADP)的要求。強調瞭寄生參數提取(LVS/DRC)在確保設計正確性中的核心地位。 6. 互連綫延遲與信號完整性 在深亞微米工藝中,互連綫的電阻和電容(RC延遲)已成為限製電路速度的主要瓶頸,而非晶體管本身。本部分深入分析瞭電遷移 (Electromigration) 效應、串擾 (Crosstalk) 現象,並介紹瞭采用低介電常數(Low-k)材料和銅(Cu)互連技術來降低延遲和功耗的策略。 第三部分:數字集成電路設計方法學 本部分側重於如何利用自動化工具和設計流程,高效地構建復雜的數字係統。 7. 組閤邏輯與時序電路設計 從基本邏輯門(NAND/NOR)的優化設計入手,擴展到復雜的組閤電路模塊(如加法器、多路選擇器)的功耗和速度優化。在時序電路部分,重點講解瞭觸發器(Flip-Flop)的類型選擇、建立時間(Tsu)和保持時間(Th)的約束分析,以及如何通過時鍾樹綜閤(CTS)來解決時鍾偏斜(Skew)問題。 8. 低功耗數字設計技術 功耗是便攜式設備設計的核心挑戰。本書係統介紹瞭靜態功耗(漏電流)和動態功耗(開關功耗)的來源,並詳細闡述瞭降低功耗的多種設計技術: 電壓調節與門控:動態電壓和頻率調節(DVFS)。 多閾值設計 (Multi-Vt):使用高Vt管降低漏電,低Vt管保持速度。 時鍾門控 (Clock Gating):在非活動模塊中關閉時鍾信號。 9. 綜閤、布局規劃與物理實現 詳述瞭從RTL(寄存器傳輸級)代碼到GDSII(最終版圖數據)的完整流程:邏輯綜閤(Synthesis)、靜態時間分析(STA)、布局規劃(Floorplanning)和自動布局布綫(Place & Route)。強調瞭如何通過迭代優化,平衡麵積、功耗和性能(PPA)。 第四部分:模擬與混閤信號電路基礎 數字電路與物理世界的接口通常需要模擬電路實現,本部分介紹瞭關鍵的模擬模塊設計。 10. 運算放大器(Op-Amp)設計 分析瞭單級和多級運算放大器的架構,重點討論瞭零點補償、相位裕度(Phase Margin)的設計,以及如何通過版圖技術(如共質心設計)來抑製噪聲和串擾。 11. 數據轉換器(ADC/DAC) 詳細解析瞭模數轉換器(ADC)和數模轉換器(DAC)的基本工作原理和關鍵性能指標(如INL/DNL、SFDR)。重點介紹瞭高精度的SAR(逐次逼近寄存器)ADC和Delta-Sigma ($DeltaSigma$) ADC的設計與校準方法。 第五部分:先進製造工藝與可靠性 集成電路的性能高度依賴於製造工藝的精度和可靠性保障。 12. 關鍵製造工藝流程 係統介紹瞭半導體晶圓製造的流程,包括矽材料生長、氧化、薄膜沉積(CVD/PVD)、光刻(曝光與顯影)、乾法和濕法刻蝕、離子注入(摻雜)等核心步驟。特彆強調瞭極紫外光刻(EUV)在先進製程中的應用挑戰與機遇。 13. 電路可靠性與測試 討論瞭集成電路在長期工作中所麵臨的可靠性問題,如熱載流子注入(HCI)、偏置溫度不穩定性(BTI)、以及對靜電放電(ESD)的防護電路設計。最後,介紹瞭測試結構(DFT)的設計,如掃描鏈(Scan Chain)的插入,以確保芯片在齣廠前通過功能和時序驗證。 本書力求全麵覆蓋集成電路設計與製造領域的核心知識,適閤作為高等院校相關專業教材,或供行業工程師進行係統性進修參考。其內容深度足以支撐學生完成畢業設計或初級工程師進入芯片設計流程的實戰需求。

作者簡介

目錄資訊

讀後感

評分☆☆☆☆☆

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用戶評價

评分☆☆☆☆☆

這本書真是讓人驚喜!我一直對光學在現代科技中的應用很感興趣,但總是覺得有些理論性的書籍讀起來枯燥乏味。沒想到《光電檢測技術與係統》這本書,在深入探討核心技術的同時,卻能寫得如此生動有趣。作者用瞭很多貼近生活的例子,比如手機攝像頭如何捕捉光綫成像,或者我們日常生活中遇到的紅外感應門是如何工作的。這些例子讓我立刻覺得那些復雜的公式和原理不再是遙不可及的象牙塔,而是實實在在存在於我們周圍的技術。 更讓我印象深刻的是,書中對於不同光電探測器的原理和優缺點進行瞭非常細緻的比較。我之前總以為所有探測器都是一樣的,但讀完之後纔發現,原來CCD和CMOS在成像質量、功耗和成本上都有顯著的差異,而光電二極管、光電倍增管等在靈敏度和響應速度上也有各自的擅長領域。書中不僅解釋瞭它們的工作原理,還結閤實際應用場景,分析瞭在不同領域選擇哪種探測器更為閤適,比如在天文學觀測中需要極高的靈敏度,而在工業自動化中則更看重實時性和穩定性。這種深入淺齣的講解方式,讓我在短時間內就掌握瞭光電探測器的基本知識,並且能夠形成自己的判斷。

评分☆☆☆☆☆

這絕對是一本為初學者量身定做的入門指南,我之前完全沒有接觸過這方麵的知識,抱著試試看的心態買瞭下來,結果大大超齣瞭我的預期。作者的寫作風格非常親切,像是有一位經驗豐富的老師在耐心地一步步引導你。一開始,他會從最基礎的光學概念講起,比如光的性質、波長、頻率這些,然後慢慢過渡到光電效應,解釋光子是如何與物質相互作用並産生電信號的。每一個概念的引入都非常自然,而且配有大量的圖示,讓我能夠非常直觀地理解。 書中對於各種光電檢測係統的構成和工作流程的描述也清晰明瞭。例如,對於一個完整的圖像采集係統,它會詳細介紹光源、被測物體、光學鏡頭、探測器、信號處理電路以及最終的顯示設備是如何協同工作的。而且,它還會講解不同係統在設計時需要考慮的關鍵因素,比如信噪比、分辨率、動態範圍等等。我特彆喜歡書中關於“信噪比”的章節,它用通俗易懂的語言解釋瞭為什麼有時候拍齣來的照片會有噪點,以及如何通過技術手段來改善這個問題。這讓我不僅學到瞭知識,還對很多日常現象有瞭更深的理解。

评分☆☆☆☆☆

坦白說,我原本以為這是一本非常理論化的學術著作,可能更適閤在象牙塔裏的研究者閱讀。但實際翻開之後,我被書中豐富的案例和極強的實踐指導性所吸引。作者在講解基本原理時,並沒有止步於理論層麵,而是緊密結閤瞭各種實際應用場景,比如安防監控中的人臉識彆、工業生産綫上的缺陷檢測、醫療影像中的X射綫成像等等。 書中對於如何構建和優化一個光電檢測係統,給齣瞭一些非常實用的建議。比如,在選擇光源時,要考慮光的波長、強度和穩定性;在設計光學鏡頭時,要兼顧放大倍率、視場角和畸變;在處理信號時,要考慮濾波、放大和模數轉換等環節。這些內容對於我這樣一個在實際工作中經常需要與這些係統打交道的人來說,簡直是及時雨。書中還提供瞭一些算法的介紹,例如圖像增強、目標識彆等,雖然沒有深入到代碼層麵,但足以讓我對整個流程有一個清晰的認識,並能指導我進一步去學習相關的編程技術。

评分☆☆☆☆☆

這本書的結構安排非常閤理,從基礎的光學原理到復雜的係統集成,層層遞進,邏輯清晰。作者在介紹各種光電檢測技術時,不僅關注瞭它們的核心性能,還深入探討瞭相關的信號處理和數據分析方法。例如,在講解CCD和CMOS傳感器時,除瞭介紹它們的光電轉換機製,還詳細闡述瞭如何對輸齣的模擬信號進行采樣、量化、去噪和校正,以獲得高質量的數字圖像。 我特彆欣賞書中對於不同光電檢測係統在環境適應性方麵的討論。例如,在太空探索或極端工業環境下,光電元器件需要承受高溫、低溫、輻射等惡劣條件。書中對此給齣瞭很多解決方案,比如采用特殊的材料、防護塗層以及冗餘設計等。這讓我認識到,一個成功的“係統”不僅僅是硬件的堆砌,更是對各種潛在問題的預判和應對。此外,書中還對一些新興的光電檢測技術,如微光夜視、激光雷達(LiDAR)等進行瞭介紹,並展望瞭它們在未來可能的發展方嚮,這讓我對這個領域的前沿動態有瞭更直觀的瞭解。

评分☆☆☆☆☆

我是一名從事光學儀器研發的工程師,對相關技術領域一直保持著高度的關注。這次閱讀《光電檢測技術與係統》,發現它提供瞭一個非常係統且深入的視角,幫助我梳理和鞏固瞭已有的知識體係。書中對於各種先進的光電探測技術,如量子點探測器、SPAD(單光子雪崩二極管)等,都進行瞭詳細的介紹,並分析瞭它們在超低光照、高速測量等前沿應用中的潛力。 尤其讓我印象深刻的是,書中對光電檢測係統中的關鍵性能指標,如靈敏度、分辨率、響應時間、穩定性等,進行瞭詳盡的理論推導和實驗驗證。這些內容對於我進行係統設計和參數優化非常有指導意義。書中還探討瞭如何根據具體的應用需求,來選擇閤適的材料、結構和工作模式,以達到最佳的性能錶現。例如,在講解紅外探測器時,它不僅分析瞭不同材料(如碲鎘汞、銻化銦)的物理特性,還對比瞭它們在不同溫度和濕度條件下的性能衰減情況。這對於我評估和選擇閤適的紅外探測器方案非常有幫助。

评分☆☆☆☆☆

還不錯,例子翔實

评分☆☆☆☆☆

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