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Scanning Microscopy for Nanotechnology
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Zhou, Weilie (EDT)/ Wang, Zhong Lin (EDT)
Springer Verlag
2006-11
552
$ 224.87
HRD
9780387333250

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发表于2024-12-02

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图书描述

This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book is written by international experts from the top nano-research groups that specialize in nanomaterials characterization. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

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