The Materials Science of Semiconductors

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出版者:Springer
作者:Angus Rockett
出品人:
页数:640
译者:
出版时间:2007-11-30
价格:USD 99.00
装帧:Hardcover
isbn号码:9780387256535
丛书系列:
图书标签:
  • 材料科学
  • 半导体
  • 物理
  • 电子学
  • 材料工程
  • 固态物理
  • 器件物理
  • 纳米技术
  • 半导体材料
  • 电子材料
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具体描述

This book describes semiconductors from a materials science perspective rather than from condensed matter physics or electrical engineering viewpoints. It includes discussion of current approaches to organic materials for electronic devices. It further describes the fundamental aspects of thin film nucleation and growth, and the most common physical and chemical vapor deposition techniques. Examples of the application of the concepts in each chapter to specific problems or situations are included, along with recommended readings and homework problems.

好的,这是一份关于一本名为《半导体材料科学》的图书的详细简介,内容涵盖了半导体材料的制备、结构、性质、器件应用以及前沿研究方向,旨在深入探讨半导体领域的核心知识。 --- 《半导体材料科学》图书简介 聚焦前沿,深度解析半导体核心技术与应用 《半导体材料科学》是一部全面、深入、系统地阐述半导体材料基础理论、制备技术、性能表征及其在现代电子器件中应用的专业著作。本书旨在为材料学、物理学、电子工程、微电子学等领域的学生、科研人员及工程师提供一个坚实的理论基础和前沿的技术视角。 本书结构严谨,内容涵盖了半导体科学的基石概念到尖端研究进展,力求在理论深度与工程实践之间找到完美的平衡。全书共分为六大核心部分,层层递进,构建起一个完整的半导体材料知识体系。 第一部分:半导体物理基础与能带理论 本部分是理解半导体材料特性的理论核心。我们从固体能带理论出发,详细解析了晶体周期性势场下电子能级的形成,并深入探讨了有效质量、密度 of states (态密度) 等关键概念。 晶体结构与键合:讨论了硅、锗、砷化镓等重要半导体材料的晶体结构(如金刚石结构、闪锌矿结构),以及它们之间的共价键和离子键特性。 能带结构与费米能级:通过能带图,清晰描绘了导体、绝缘体与半导体的本质区别。重点阐述了本征半导体与杂质半导体的费米能级位置,以及它们如何受温度和掺杂浓度的影响。 载流子输运机制:详细分析了电子和空穴在电场和磁场作用下的漂移运动,讨论了散射机制(声子散射、杂质散射)对载流子迁移率的影响,并引入了扩散理论和爱因斯坦关系。 第二部分:半导体材料的制备与生长技术 高质量的半导体材料是高性能器件的基础。本部分将重点介绍目前工业界和实验室中广泛使用的各类材料生长与制备技术。 晶体生长技术:系统介绍了直拉法 (Czochralski)、区熔法 (Zone Melting) 等用于制备高纯度单晶硅的技术细节、工艺控制要点及缺陷控制策略。对于化合物半导体,则涵盖了液相外延 (LPE)、气相外延 (Vapor Phase Epitaxy, VPE) 等方法。 薄膜沉积与外延生长:深入探讨了分子束外延 (MBE) 和金属有机化学气相沉积 (MOCVD) 等先进外延技术。重点分析了如何通过精确控制生长温度、压力和组分比例,实现原子级厚度的薄膜生长和应变层结构的构建。 掺杂技术与激活:阐述了热扩散和离子注入两种主要的掺杂方法。详细讨论了离子注入后的退火过程、缺陷修复以及杂质激活效率的问题,这是实现PN结和接触结构的关键步骤。 第三部分:缺陷工程与材料表征 半导体性能对微观缺陷极其敏感。本部分专注于材料中的各种缺陷类型及其对器件性能的影响,并介绍了现代材料表征的工具箱。 点缺陷与线缺陷:分析了空位、间隙原子、位错等本征和非本征缺陷的形成机制、迁移动力学及其在器件中引起的陷阱效应和漏电机制。 光学表征技术:详细介绍了光致发光光谱 (PL)、拉曼散射光谱 (Raman) 等技术,如何用于评估材料的晶格质量、组分均匀性和应力分布。 电学与结构表征:重点讲解了深能级瞬态谱 (DLTS) 如何定量分析缺陷的能级和浓度;结合透射电子显微镜 (TEM) 和X射线衍射 (XRD),实现对薄膜结构、界面质量和晶格常数的精确无损分析。 第四部分:宽禁带半导体与新型材料体系 随着摩尔定律的放缓,宽禁带(WBG)半导体和新型低维材料正成为功率电子和光电子领域的研究热点。 碳化硅 (SiC) 与氮化镓 (GaN):深入剖析了 SiC 和 GaN 在高功率、高频率应用中的优势。讨论了它们在晶格失配、极化效应导致的二维电子气(2DEG)形成机制,以及在高热流密度下的可靠性挑战。 钙钛矿与铁电半导体:对新兴的钙钛矿材料在太阳能电池和发光器件中的应用潜力进行了评述,特别关注了其本征缺陷和长期稳定性问题。 低维半导体:探讨了量子点(Quantum Dots)、纳米线(Nanowires)和二维材料(如过渡金属硫化物 TMDs)的量子尺寸效应,及其在下一代光电器件中的潜在应用。 第五部分:半导体异质结与界面科学 现代集成电路和光电子器件严重依赖于不同材料构成的异质结结构。本部分聚焦于界面物理和异质结的特性。 能带对准与势垒形成:基于肖特基-莫特规则(Schottky-Mott Rule)和 Anderson 势垒模型,详细分析了PN结、PNP/NPN异质结、以及金属-半导体接触的能带弯曲和内建电场。 应变工程 (Strain Engineering):阐述了通过在衬底上生长具有不同晶格常数的材料层,如何人为地改变材料的带隙和载流子有效质量,以优化器件性能,例如在调制掺杂异质结(MODFET)中的应用。 界面态与表面钝化:讨论了界面陷阱电荷对器件电学特性的负面影响,以及通过热氧化、原子层沉积(ALD)等技术进行界面钝化和高质量氧化物生长的必要性。 第六部分:半导体在关键器件中的应用原理 最后,本书将理论与工程实践紧密结合,剖析半导体材料在核心电子和光电器件中的工作机制。 晶体管基础:系统阐述了双极结型晶体管(BJT)和金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的工作原理。重点分析了沟道材料的迁移率、阈值电压、亚阈值斜率等关键参数如何由材料本身的物理性质决定。 光电子器件:详细介绍了发光二极管(LED)和激光二极管(LD)的辐射复合机制、载流子注入效率和光萃取效率。同时,对光电二极管(PD)和太阳能电池中的光生载流子分离过程进行了深入分析。 功率与高频器件:结合第三部分介绍的宽禁带材料,探讨了肖特基势垒二极管(SBD)和功率MOSFET在高电压、高电流密度下的导通损耗与开关损耗的权衡。 总结 《半导体材料科学》不仅是一本详实的教科书,更是一本面向工业实践的参考手册。它通过对微观物理机制的透彻理解,指导读者如何通过材料设计和工艺优化,实现下一代高性能半导体器件的开发。本书内容涵盖了从基础晶体生长到尖端异质结工程的完整链条,是理解和推动半导体技术发展的必备读物。

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