Vlsi-design Of Non-volatile Memories

Vlsi-design Of Non-volatile Memories pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:Springer Verlag
作者:Campardo, Giovanni/ Micheloni, R./ Novosel, Daniel
出品人:
页数:740
译者:
出版时间:
价格:$209.00
装帧:HRD
isbn号码:9783540201984
丛书系列:
图书标签:
  • VLSI
  • 非易失性存储器
  • 存储器设计
  • 集成电路
  • 半导体存储器
  • 存储系统
  • 电子工程
  • 计算机工程
  • 存储技术
  • 低功耗设计
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具体描述

模拟集成电路设计与分析:从基础到前沿应用 图书简介 本书旨在为电子工程、微电子学和相关领域的学生、研究人员以及专业工程师提供一个全面、深入且高度实用的模拟集成电路设计与分析的知识体系。不同于侧重于存储器阵列或特定数字逻辑的文献,《模拟集成电路设计与分析:从基础到前沿应用》 专注于构建现代电子系统的核心——高性能、低功耗的模拟和混合信号电路的理论基础、设计方法学以及实际实现技术。 本书内容组织严谨,从电路理论的复习入手,逐步深入到复杂的晶体管级电路设计,最终涵盖了当前业界关注的热点应用领域。全书结构清晰,理论推导详尽,并配以大量来自实际设计案例的仿真验证和性能分析,确保读者不仅能理解“是什么”,更能掌握“如何做”。 --- 第一部分:模拟电路设计基础与有源器件模型(The Bedrock) 本部分奠定了整个模拟设计领域所需的理论基石,重点在于理解半导体器件的物理行为及其在电路中的等效模型。 第一章:半导体器件物理回顾与CMOS模型 详细回顾PN结、MOSFET的基本工作原理,重点解析了亚阈值区、线性区和饱和区的特性。深入探讨了短沟道效应、载流子速度饱和等对现代CMOS工艺的影响。本章将精确分析BSIM(Berkeley Short-channel IGFET Model)等工业标准模型的关键参数,并指导读者如何根据工艺库文档,提取和应用这些模型进行准确的电路仿真。 第二章:基本单元电路分析与偏置技术 系统介绍各种偏置电路的设计,包括电流源、电压基准和电流镜。重点分析了电流镜的失配(Mismatch)、共模抑制比(CMRR)和电源抑制比(PSRR)的理论限制。详细讲解了如何利用先进的偏置技巧(如自偏置、自举技术)来实现高精度、高稳定性的工作点。 第三章:单级和多级放大器设计 这是模拟电路设计的核心。本章从最基础的共源、共栅、共射极结构开始,逐步过渡到实用的两级运放、折叠式运放(Folded Cascode)和尾电流源共源共栅(Telescopic Cascode)结构。对于每种结构,本书都提供了详细的直流增益、相位裕度、单位增益带宽(GBW)的解析计算方法,并探讨了噪声源(热噪声、闪烁噪声)的建模和优化策略。 --- 第二部分:反馈、稳定性和噪声控制(The Performance Pillars) 有效的反馈机制是实现高性能模拟电路的关键,而稳定性与噪声是衡量电路质量的两大核心指标。 第四章:负反馈理论与补偿技术 全面解析了反馈放大器的波德图分析、稳定性判据(如相位裕度、增益裕度)。重点讲解了频率补偿技术,包括密勒补偿(Miller Compensation)、导纳提升(Nulling Resistor)以及先进的零点-极点对消技术。本章通过一系列实际运放的例子,演示了如何设计出在不同负载条件下都能稳定工作的电路。 第五章:线性度与失真分析 探讨了模拟电路的非线性特性,包括高阶谐波失真(HD2, HD3)的产生机理。详细介绍了输入/输出摆幅的限制、压摆率(Slew Rate)的计算及其对信号保真度的影响。本章将深入分析如何通过优化晶体管尺寸、偏置电流以及拓扑结构来提升电路的线性度,例如使用源极跟随器或改进的共源共栅结构。 第六章:随机与热噪声的抑制 系统阐述了热噪声、闪烁噪声(1/f Noise)和随机过程噪声在MOSFET中的来源和建模。指导读者如何使用噪声分析工具(如均方根值法、噪声因子)来量化电路的整体噪声性能。重点介绍了提高信噪比(SNR)的设计技巧,如噪声白化、共模噪声抑制以及低噪声放大器(LNA)的设计原理。 --- 第三部分:数据转换器与高级模拟模块(The Integration Frontier) 本部分将理论应用于复杂的混合信号系统,特别是高速高精度的数据转换器(ADC/DAC)的设计。 第七章:开关电容电路与采样保持器 解析了开关电容(Switched-Capacitor, SC)技术在模拟滤波器和采样电路中的应用。详细介绍了采样保持(Sample-and-Hold, S/H)电路的设计要求,包括建立时间(Acquisition Time)、毛刺(Glitch)和抖动(Jitter)对ADC性能的影响。 第八章:数模转换器(DAC)设计 全面覆盖了主流DAC架构,包括电阻梯形(Resistor Ladder)、电阻平均(R-2R)以及电容分母(Charge Scaling)结构。重点分析了失配误差、非线性误差(INL/DNL)的来源,并介绍了矫正技术和先进的随机失配校正方法。 第九章:模数转换器(ADC)设计 这是混合信号电路的难点与重点。本书详细分析了各类ADC的拓扑结构: Flash ADC: 速度的极限与失调校正。 Pipeline ADC: 级间增益和残余电荷处理。 Sigma-Delta ($SigmaDelta$) ADC: 噪声整形原理、环路滤波器设计与量化器的选择。 深入讲解了如何通过系统级优化来平衡速度、分辨率和功耗。 --- 第四部分:低功耗与先进工艺挑战(Modern Imperatives) 本部分关注如何在日益严格的功耗限制和先进(如FinFET)工艺节点下进行有效的模拟设计。 第十章:低压低功耗设计技术 探讨了在深亚微米及以下工艺中,如何应对器件阈值电压的限制。详细介绍了超低压(Sub-VT)偏置技术、动态阈值MOSFET(DTMOS)的应用,以及如何利用亚阈值导电进行极低功耗运算。 第十一章:工艺变异与匹配性设计 针对现代工艺中器件参数(如$V_{TH}, K_n$)的随机失配和工艺角(Corner)变化,本书提出了鲁棒性设计的方法。重点介绍了晶体管匹配的重要性,以及如何通过共质心布局(Common-Centroid Layout)、共源极/共栅极(Cascode)共用结构来最小化匹配误差。 第十二章:RF与高速模拟前端(Optional Advanced Topics) 简要介绍了射频(RF)模拟电路的基本要求,包括阻抗匹配网络(Smith Chart应用)、噪声系数的优化,以及低噪声放大器(LNA)和混频器(Mixer)的基本架构,为读者向无线通信领域扩展知识边界提供指引。 --- 本书特色: 1. 分析驱动设计: 强调解析公式推导,而非仅依赖黑盒仿真结果,帮助读者理解设计决策背后的物理根源。 2. 工艺视角: 始终将电路设计置于实际半导体工艺的约束之下进行讨论,覆盖了从0.5 $mu m$ 到更先进节点的关键挑战。 3. 综合应用: 将数据转换器作为综合应用案例,串联起放大、采样、反馈和噪声控制等所有基础知识点。 本书是为所有致力于掌握高性能、高集成度模拟和混合信号IC设计的专业人士准备的权威参考资料。

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