Physical Methods for Material Characterization pdf epub mobi txt 电子书下载 2026

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出版者:CRC Pr I Llc

作者:Flewitt, P. E. J./ Wild, R. K.

出品人:

页数:602

译者:

出版时间:2003-10

价格:$ 112.94

装帧:Pap

isbn号码:9780750308083

丛书系列:

图书标签:

材料表征
物理方法
材料科学
材料工程
测试技术
分析技术
结构表征
性能表征
X射线衍射
显微镜技术

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具体描述

In the second edition of this popular text, the authors provide a comprehensive description of the range of techniques currently used for characterizing the microstructure of materials. Introductory chapters cover the basic physics required to describe the microstructure of materials and their interaction with various types of radiation. Much of the hardware involved in these techniques is dependent on a vacuum environment, so a full chapter is devoted to this topic. Characterization techniques are then divided on the basis of the interrogating radiation, with separate chapters dealing with optical and x-ray techniques, electron microscopy and spectroscopy, and ion and particle microscopy and spectroscopy. Within each chapter, material is given covering the radiation sources, the construction and layout of instrumentation and the analysis of data. Comprehensively revised throughout, this edition reflects the rapid changes that have taken place recently. It contains additional material on a range of methods, including scanning probe techniques that reflect the need for analysis of materials at the nanoscale, and a detailed review of recent developments in data analysis and computing techniques. "Physical Methods for Materials Characterisation, Second Edition" will be of interest to advanced undergraduates, postgraduates, and researchers in physics, materials science, and engineering.

好的，这是一份图书简介，内容严格围绕物理方法在材料表征方面的应用，但完全不涉及《Physical Methods for Material Characterization》这本书的具体内容或章节划分。 --- 材料科学前沿：结构、性能与过程的物理探究图书简介在现代材料科学与工程领域，理解材料的微观结构如何决定其宏观性能，是推动技术创新的核心驱动力。本书旨在为材料研究者、工程师及高级学生提供一个深入、系统的视角，聚焦于一系列关键的物理表征技术。我们不提供对某一特定教材的概述，而是构建一个横跨多种互补方法的知识框架，阐释如何运用这些物理工具来揭示从原子尺度到宏观尺度的材料行为。本书的核心理念在于，任何先进材料的开发都离不开精确的表征。从探索晶体结构的排列，到量化缺陷的分布，再到分析材料在极端条件下的动态响应，每一种物理方法都提供了一个独特的“窗口”，让我们得以窥见材料内部的秘密。第一部分：结构解析的基石材料的形貌、晶体结构和化学组成分布是理解其功能的先决条件。本部分详细探讨了那些用于确定材料基本构架的物理技术。晶体结构与形貌分析：我们首先深入研究基于波与物质相互作用的衍射原理。这包括对粉末和单晶衍射技术的应用，用以精确解析晶格参数、相组成以及晶粒取向。我们将探讨如何通过分析散射信号的强度和位置，来识别复杂的晶相，并判断材料是否存在长程有序或短程有序。此外，对形貌学的考察，特别关注那些依赖于高能电子束与样品相互作用的技术。这些技术不仅能提供高分辨率的二维成像，更重要的是，它们能通过倾斜观察、背散射分析等手段，重建出材料的表面起伏、晶界形态以及微观相的边界特征。对于软物质和聚合物系统，对小角度散射技术的深入讨论将是重点，这些技术利用X射线或中子束的散射特性，揭示纳米尺度上相分离、链段分布和聚集体的结构特征。化学元素与价态映射：仅仅知道原子排列是不够的，材料的性能往往对痕量杂质或特定化学状态极其敏感。本部分将详述如何运用结合了激发与探测的物理方法来确定元素的定性和定量分布。这包括对光谱学方法的应用，例如，通过分析元素在不同能量激发下的特征吸收或发射谱线，实现元素特异性分析。特别地，我们聚焦于那些能够提供空间分辨信息的表面分析技术。这些技术通过控制探测深度或利用聚焦的激发源，使得研究人员能够绘制出元素在剖面或横截面上的浓度梯度图，这对于理解扩散过程、薄膜界面行为至关重要。价态信息的获取，往往需要结合对光电子或吸收边结构的精细分析，揭示电子结构的变化，这直接关联到材料的电学和磁学性能。第二部分：性能驱动的动力学与场响应材料的宏观功能性往往源于其对外部场（如热、电、磁场）的响应能力以及内部的微观动力学过程。本部分侧重于那些能够实时或准实时监测材料在特定场作用下变化的物理技术。热力学与输运性质的探究：材料的热稳定性、导热性、热膨胀是工程应用中的关键参数。本书详细论述了如何设计实验来分离和量化这些热物理性质。例如，通过测量样品在温度梯度下的热流响应，可以确定其热导率。同时，对不同尺度热容量变化的监测，也为相变研究提供了强有力的物理证据。在输运性质方面，对电学和磁学响应的测量是核心。通过精确控制施加的电场、磁场和温度，记录下的电导率、霍尔效应或磁化率曲线，可以直接反映载流子浓度、迁移率、畴结构以及磁耦合强度。光谱学与电子结构探究：电子能带结构是决定半导体、导体和绝缘体性质的根本。本书将介绍几种先进的光谱技术，它们能够直接探测或间接推断材料的电子态密度和能带排列。例如，通过测量材料在不同频率光照射下的光吸收、透射或散射谱，可以确定光学带隙和激子行为。更深入的电子结构分析则依赖于那些能够探测材料表面或近表面电子能量分布的技术。这些技术对于理解催化活性位点、界面电子转移以及光电器件的效率至关重要。我们还会探讨如何利用这些信息来指导材料的能带工程。微观动力学与形变行为：材料的服役性能与其在应力、应变或高能粒子辐照下的行为密切相关。本部分探讨了如何利用物理方法来观察和量化微观尺度的塑性、蠕变或断裂过程。通过结合成像技术和力学加载装置，可以实时观察位错的运动、孪晶的形成或裂纹的萌生和扩展路径。对于高熵合金或复杂复合材料，形貌的演变和内部应力的重新分布是研究的重点。我们还将讨论如何利用中子散射或特定频率的声学技术，来探测材料内部的振动模式和低能激发过程，这些过程直接影响材料的耗散机制和韧性。第三部分：多尺度与多物理场耦合分析现代材料问题很少是单一尺度的或受单一物理场控制的。本书的最后部分强调了将不同物理表征手段进行有效集成的重要性，以构建一个跨尺度的材料行为模型。原位与非平衡态表征：静态分析固然重要，但材料的“活”的状态——即其在反应、生长或服役条件下的行为——才是最能体现其真实性能的。本部分重点介绍了在受控环境中进行表征的技术，例如在反应气氛下进行X射线衍射，或在机械加载过程中进行磁化率测量。这种“原位”策略使得研究人员能够捕捉到亚稳态、中间相或快速弛豫过程的瞬间信息，极大地丰富了对材料演化机制的理解。数据整合与模型构建：最终，所有收集到的物理数据都需要被整合到一个连贯的科学叙事中。本书提供了如何从海量的结构数据、谱学信息和性能曲线中提取出物理意义，并将其转化为可预测的计算模型的基础指导。这包括如何校准基于第一性原理计算的结果，如何利用机器学习算法来识别复杂的表征数据中的潜在关联，以及如何确保跨设备、跨实验室数据的可比性。本书的撰写风格旨在保持严谨的科学准确性，同时注重对实验细节和数据解释的透彻阐述。它不是对某一特定技术手册的替代，而是作为一本综合性的参考书，指导读者如何策略性地选择和组合物理表征工具，以解决材料科学领域中最具挑战性的问题。通过掌握这些物理探究方法，读者将能够更深入地理解材料的本质，并有效指导新材料的设计与开发。