具体描述
本书系统地介绍数字系统测试理论和方法，包括测试生成、故障模型、故障模拟、可测试性设计、内建自测试等内容。本书共分为三部分：第一部分介绍数字系统、数字微系统芯片缺陷的来源、逻辑描述的方法等；第二部分介绍数字系统的可测试性设计理论和方法、内建自测试BIST、测试数据压缩方法等；第三部分主要讨论系统测试的方法。本书概念清晰、层次分明、定义和证明准确、算法推导和阐述简练。每章附有大量练习题可帮助读者消化吸收所学的概念。
本书可供数字系统设计相关技术人员参考，也可作为高等院校相关专业高年级本科生或研究生的教材。
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目录信息
读后感
用户评价
作为一名曾经尝试过数字电路设计，但最终被测试环节的复杂性劝退的学生，我一直对“数字系统测试与可测试设计”这个方向充满敬畏。这本书的书名直接击中了我的痛点。我期望这本书能够提供一种全新的视角来看待数字系统的构建，不再是孤立的设计，而是从诞生之初就融入了“被验证”的基因。我非常希望能看到书中对于“可测试设计”的哲学层面的探讨，它不仅仅是一种技术手段，更是一种设计理念的转变。具体到内容层面，我期待书中能够深入讲解各种测试激励生成的方法，比如随机测试、伪随机测试，以及更高级的响应式测试。同时，对于测试结果的分析和故障定位，我希望书中能提供系统性的方法论，而不是泛泛而谈。例如，当测试失败时，我们应该如何系统地缩小故障范围，找到问题的根源？书中是否会介绍一些常用的故障诊断算法？我比较倾向于那种理论与实践相结合的书籍，所以如果书中能够提供一些可以自行操作的例子，或者引导读者去思考实际项目中的测试挑战，那我会觉得非常有价值。
初次翻阅这本《数字系统测试与可测试设计》，就被其深邃的专业性所吸引。我是一名在电子工程领域摸爬滚打多年的工程师，虽然接触过不少数字电路的设计与实现，但在测试的环节，总感觉自己像是摸着石头过河，缺乏系统性的理论指导和实践方法。这本书的出现，恰似在迷雾中点亮了一盏明灯。我希望书中能够深入剖析数字系统测试的原理，不仅仅停留在“如何测”，更在于“为何这样测”。例如，在探讨测试覆盖率的时候，我期待能看到关于不同测试度量（如门覆盖、语句覆盖、路径覆盖等）的详细解释，以及它们各自的优缺点和适用场景。同时，对于“可测试设计”这一概念，我希望书中能给出明确的定义和实现思路，它究竟是如何在设计之初就为后期的测试铺平道路的？书中对于故障模型（如短路、开路、桥接故障等）的介绍是否足够详尽？能否提供一些具体的例子，说明如何根据故障模型来设计测试向量？我更关心的是，这本书是否能引导我思考如何优化测试流程，提高测试效率，从而缩短产品上市周期，降低研发成本。
这本书的书名倒是挺有意思的，让人一看就知道是讲什么的。我之前对数字电路设计挺感兴趣的，但对测试这方面了解得不多。总觉得设计完就完了，没想到测试竟然有这么大学问，还有专门的“可测试设计”这么一说，感觉这本书会打开我的新世界大门。我希望这本书能从最基础的概念讲起，比如什么是数字系统测试，为什么要进行测试，以及测试在整个产品生命周期中的作用。我特别期待能够看到一些经典的测试方法介绍，比如功能测试、结构测试，还有一些更高级的，比如模式生成、故障诊断等等。当然，如果书中能够结合一些实际案例，或者用一些生动的比喻来解释抽象的概念，那就更好了。我平时看书喜欢那种条理清晰、循序渐进的，所以希望这本书的结构安排也很合理，能够让我一步一步地理解和掌握其中的知识。而且，我对书中的图示和例题也非常看重，好的图示能够帮助理解，好的例题则能加深印象。这本书的名字听起来就挺“硬核”的，希望里面的内容不会太枯燥，能够激发我学习的兴趣，而不是让我觉得是在啃一本技术手册。
这本书的书名《数字系统测试与可测试设计》听起来就充满了挑战与智慧。作为一个对电子技术充满热情，但并非专业出身的爱好者，我一直对产品背后的“验证”环节感到好奇，也深知其重要性。我希望能通过这本书，获得一个全面而深入的了解。我期望书中能够从最基础的“为什么需要测试”开始，逐步深入到“如何有效地进行测试”。我特别关注“可测试设计”这一部分，这是否意味着在设计阶段就应该预设测试的“后门”或者“通道”？书中是否会介绍一些具体的硬件或软件技术来实现这一点？比如，如何通过增加一些控制和观测点来简化测试？我希望能看到一些关于测试向量生成、故障模拟和诊断的原理和技术介绍。当然，我最希望的是，这本书能够提供一些实际的应用场景和案例分析，让我能够理解这些理论是如何在现实世界的数字系统中发挥作用的。毕竟，理论知识再丰富，也需要落地才能真正产生价值。我希望这本书能让我感受到技术背后的逻辑和魅力。
这本书的书名本身就充满了技术深度，让我这个对数字系统有一定了解，但对测试环节知之甚少的读者充满了好奇。我一直觉得，设计完成后，只要功能符合要求就算完成任务了，但显然，“测试”是一个独立且至关重要的环节。我特别希望这本书能详细介绍各种测试技术的原理和应用。比如，书中会不会讲解一些自动化测试的工具和方法？我听说有很多专门的EDA（电子设计自动化）工具可以辅助测试，我很想知道这本书是否会涉及这些工具的使用，或者至少介绍它们的基本功能和原理。另外，对于“可测试设计”这个概念，我理解它是在设计过程中就考虑测试的便利性，那具体体现在哪些方面呢？书中会不会有关于扫描链（scan chain）设计、内建自测试（BIST）等技术的详细阐述？我希望不仅仅是理论介绍，还能有相关的流程图、伪代码或者实际的设计示例，这样我才能更好地理解和应用。同时，我比较担心这类技术书籍会过于晦涩难懂，希望书中能够采用清晰的语言和生动的插图，将复杂的概念解释清楚。
“what the fuck am ic reading”
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