《电子技术初步》采用“就业导向的职业能力系统化课程及开发方法(VOCSCUM)”进行开发,是国家教育科学“十五”规划国家级课题“IT领域高职课程结构改革与教材改革的研究与实验”的研究成果之一,作为“高等职业教育电子信息类专业‘双证课程’培养方案配套教材”之一,同时也是“CEAC国家信息化培训认证”的指定教材,具有鲜明的特色,可作为高职高专院校电子信息类专业教材。
《电子技术初步》是“电子产品制作”职业能力课程的第二阶段课程的教材。《电子技术初步》主要涉及电子技术初步(模拟电路)知识。这一部分内容作为就业导向的“双证”教学体系的培训中心课程。《电子技术初步》摆脱了以往基础课程“定理-推导-验证”的模式,本着知识够用为度和理论与实训相结合的思路展开,在介绍理论知识的同时,嵌入了大量的实训案例,使枯燥的概念和生动的实际操作相结合,为学习后续课程打下了基础,并储备了实际操作的经验。
《电子技术初步》共6章,主要内容有常用分立电子元器件结构及测试、基本放大电路、集成运算放大电路、反馈与振荡、直流稳压电源。并在各章分别安排了电子元器件应用初步和电子电路综合技能实训。最后介绍了电子产品整机装配基础。
《电子技术初步》适合于高等职业院校、高等专科学校、成人高等院校、本科院校举办的职业技术学院的电子信息类专业教学使用,也可供继续教育学院、民办高校、技能型紧缺人才培养使用。
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我一直觉得,要真正理解模拟电路的设计思想,光靠看原理图是远远不够的,必须得有点“工程师的直觉”。而这本《线性电路分析与设计方法》恰恰培养的就是这种直觉。它与其他教材最大的不同在于,它极少陷入纯粹的数学推导泥潭,而是将重点放在了“建模”和“权衡”上。比如,在讲解运算放大器(Op-Amp)的频率补偿时,书中详细对比了米勒补偿和极点/零点对消法的实际效果和适用场景,甚至探讨了在非理想条件下,不同补偿策略对系统稳定性的细微影响。这种强调实际应用价值的叙述方式,极大地提高了我的工程敏感度。我感觉自己不再是单纯地解题,而是在学习如何为特定的应用场景选择最合适的电路拓扑和元件参数。书中的案例分析非常贴近实际的PCB布局问题,对新手来说,这无疑是一剂强心针,让你知道书本知识如何在现实世界中落地生根。
评分拿到这本《数字电路基础》时,我简直是眼前一亮。从前那些晦涩难懂的逻辑门、布尔代数,在这本书里被阐述得如同儿歌般清晰。作者似乎有一种魔力,能将最复杂的概念掰开了揉碎了,用最直观的例子呈现出来。比如讲到触发器的工作原理,他没有堆砌一堆公式,而是用一个生动的“水龙头控制”模型来比喻,让我一下子就抓住了其核心的“记忆”功能。而且,书中的习题设计得极其巧妙,它们不仅仅是知识点的简单复述,更是对理解深度的考验。完成每一个章节的练习后,我都有种豁然开朗的感觉,那种掌握了底层运行逻辑的成就感是无与伦比的。这本书对于想扎扎实实打好数字系统基础的初学者来说,简直是宝藏,它成功地消除了我对这门学科的恐惧感,让我真正体会到电子世界的奇妙与规律之美。
评分对于任何想要涉足微控制器编程和嵌入式系统开发的人来说,一本好的参考书是引路灯,而《C语言在嵌入式系统中的高效应用》简直就是一盏强力的探照灯。这本书的视角非常独特,它没有将C语言当作一门通用的编程语言来教,而是完全从资源受限的硬件环境出发来讲解。内存管理、位操作的技巧、对栈和堆的精细控制,都被赋予了全新的意义。作者对底层寄存器操作的描述细致到令人发指,每当讲到一个外设(比如定时器或中断控制器)的初始化时,他都会附带上芯片手册中的相关寄存器位定义,这种无缝衔接的学习体验,极大地缩短了理论到实践的距离。我已经很久没有读到一本能把“代码效率”和“硬件特性”结合得如此紧密的教材了,它让我的代码不仅能跑起来,而且跑得更加“聪明”和“省电”。
评分接触这本《电磁场与电磁波理论深度解析》时,我带着一种朝圣般的心情,毕竟这是电子工程中最具挑战性的学科之一。这本书处理问题的角度是极其高屋建瓴的,它没有急于抛出麦克斯韦方程组,而是先从场的概念演化历史讲起,让读者理解为什么需要用场来描述电磁现象,这极大地增强了理论的逻辑自洽性。在后续的波动方程推导中,作者极其注重物理图像的构建,他会用三维矢量场的旋转和发散来直观地解释波的传播特性,这比单纯的数学推导要深刻得多。特别是对波导和天线理论的阐述,作者似乎深谙“化繁为简”的艺术,将复杂的边界条件问题转化为易于理解的模式分解。读完后,我对无线通信中的信号传播衰减、多径效应等现象,都有了一种基于第一性原理的深刻洞察,不再是死记硬背公式的“空中楼阁”式理解了。
评分说实话,我对这类技术书籍一向抱持着审慎的态度,很多所谓的“入门”读物,读完后感觉就像是看了场华丽的PPT演示,理论上似乎都懂了,但真要自己动手实现点什么,脑子立刻就宕机了。然而,这本《半导体物理导论》完全颠覆了我的预期。它最可贵的地方在于对“为什么”的深究。它没有停留在简单的器件结构描述上,而是深入剖析了能带理论在PN结形成过程中的决定性作用。作者的论证过程严谨而又不失灵活性,他仿佛是一位经验丰富的导师,总能在关键的转折点插入一些历史背景或者实验观察,让抽象的物理图像变得鲜活起来。特别是关于空穴迁移率的讨论部分,作者结合了温度、杂质浓度等多个变量进行了多维度分析,这让我对半导体器件的性能极限有了更深刻的敬畏。这本书需要的不仅仅是阅读,更是一种思考和推导的过程,读完后感觉自己的思维逻辑都被重新梳理了一遍,受益匪浅。
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