经典集成电路应用手册

经典集成电路应用手册 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:福建科学技术出版社
作者:罗厚军
出品人:
页数:466
译者:
出版时间:2006-2
价格:58.00元
装帧:精裝本
isbn号码:9787533527006
丛书系列:
图书标签:
  • 电子
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具体描述

介绍各种实用的经典集成电路,内容涉及各集成电路的分类、选用、检测、器件引脚功能、内部电路框图、电气特性、典型应用等。其?容丰富、材料新颖、实用性强、查阅方便,具有较强的指导性和?考性。

全书分为器件部分和应用部分。器件部分介绍模拟集成电路、数字集成电路、混合集成电路、接口集成电路、集成稳压器、电视和音响集成电路、专用集成电子模块。应用部分介绍信号的产生与处理电路、放大电路、调制解调(即发送接收)电路、视频与音频处理电路、比较电路、A/D与D/A转换电路、延时与定时电路、显示与驱动电路、检测电路、电源监测及转换电路、充电电路、保护电路、控制电路、汽车应用电路、仪表电路、通讯电路、计算机辅助电路、接口电路、转换电路、电子保健电路、报警电路、语音电路、游戏电路等。

《现代电子元器件与电路设计实践指南》 导言 在信息技术飞速发展的今天,电子技术已渗透到社会生活的方方面面。从消费电子到工业控制,再到航空航天领域,对高性能、高可靠性电子系统的需求日益迫切。然而,要实现这些先进系统的设计与制造,必须建立在对基础元器件深刻理解和精湛电路设计能力之上。本书《现代电子元器件与电路设计实践指南》正是为满足这一需求而编写的,它旨在为电子工程师、技术人员以及高年级电子专业学生提供一本全面、深入且极具实操性的参考手册。 本书摒弃了对传统、基础集成电路应用范例的过度依赖,转而聚焦于当前电子设计领域的前沿技术、新型元器件特性及其在复杂系统中的实际应用方法。我们的目标是搭建理论知识与工程实践之间的坚实桥梁,使读者能够快速掌握如何选择最合适的元器件,并构建出符合现代严苛标准(如低功耗、高速度、抗干扰性强等)的电路系统。 第一部分:新一代电子元器件的深度解析 本部分是全书的基础,我们着重探讨了近年来取得突破性进展的电子元器件,它们是构建未来电子设备的核心。 第一章:先进半导体材料与器件 传统的硅基器件虽然成熟,但在高频、高功率应用中已显现局限性。本章将详细介绍第三代半导体材料,如碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)。我们将深入分析它们的物理特性、能带结构差异,以及它们如何赋能于宽禁带(WBG)功率器件。重点讨论SiC MOSFETs和GaN HEMT在开关损耗、导通电阻及工作温度方面的优势,并提供详细的选型指南,说明在电动汽车(EV)的牵引逆变器、快速充电器以及射频功率放大器等领域中的具体应用案例和设计考量。 此外,我们还将探讨新型存储器技术。除了传统的SRAM和DRAM,本章对阻变存储器(RRAM)、相变存储器(PCM)和铁电存储器(FeRAM)进行了系统性介绍。解析这些新型存储器的读写机制、耐久性和非易失性特性,并提供将它们集成到嵌入式系统和边缘计算设备中的设计思路。 第二章:高精度模拟与混合信号前沿技术 现代系统对信号处理的精度和速度要求极高。本章聚焦于驱动这些性能提升的关键模拟芯片。 我们将深入剖析高分辨率模数转换器(ADC)和数模转换器(DAC)的技术瓶颈与突破。重点关注Σ-Δ(Sigma-Delta)架构在超高精度测量中的应用,以及流水线(Pipelined)和逐次比较寄存器(SAR)架构在高速数据采集中的性能优化。书籍将提供详细的寄生效应分析和时钟抖动(Jitter)对系统性能影响的量化模型。 在运算放大器(Op-Amp)方面,我们不再停留在基础增益带宽积的讨论上,而是深入研究低噪声、轨到轨(Rail-to-Rail)输出技术的实现细节,以及斩波稳定(Chopper-Stabilized)技术如何有效消除直流漂移,适用于高灵敏度的生物医学传感器接口。 第三章:传感器融合与智能接口电路 物联网(IoT)和工业4.0的兴起,使得传感器接口的设计成为核心挑战。本章关注如何将物理世界的数据高效、准确地转化为数字信号。 我们将详细介绍MEMS(微机电系统)传感器的驱动与信号调理电路设计。包括压力传感器、加速度计和陀螺螺仪的桥式电路设计、低噪声放大技术,以及如何处理传感器输出的高阻抗、小信号。针对环境监测,本章也涵盖了气体传感器(如光电离子化检测PID)的接口电路设计,特别是如何进行线性化补偿和温度漂移校准。 第二部分:系统级电路设计与优化策略 掌握了新型元器件的特性后,本部分将引导读者如何将它们有机地组合,解决复杂的工程问题。 第四章:高效能电源管理系统(PMS) 电源是电子系统的生命线,现代设计强调能效、功率密度和电磁兼容性(EMC)的平衡。本章摒弃对线性稳压器的基础讲解,转而专注于开关模式电源(SMPS)的先进拓扑结构。 我们将详细分析同步整流降压-升压(Buck-Boost)拓扑在宽输入电压范围内的应用,并探讨无电感(Inductorless)电源(如电荷泵)在高动态范围下的适用性。对于电池供电系统,本章提供了动态电压与频率调节(DVFS)的实现策略,以及先进的电池电量计(Fuel Gauge)的校准与数据解释方法。此外,还包含了电磁干扰(EMI)的源头分析和布局布线抑制技术。 第五章:高速信号完整性(SI)与电源完整性(PI) 随着数据速率的提高,信号完整性问题日益突出。本章基于电磁场理论,深入探讨了传输线理论在PCB设计中的实际应用。 我们将量化分析串扰(Crosstalk)、反射和损耗对高速串行链路(如PCIe、USB 3.x)的影响。详细介绍阻抗匹配、过冲/下冲控制的仿真与实践方法。对于电源完整性,本章重点剖析了去耦电容的优化选型与放置策略,如何通过仿真工具(如3D场求解器)来建模和最小化电源分配网络(PDN)的阻抗峰值。 第六章:嵌入式系统的可靠性与鲁棒性设计 在工业和汽车应用中,系统的长期稳定运行至关重要。本章关注如何通过设计手段增强电子系统的抗干扰能力和生命周期。 我们将讨论硬件看门狗(Watchdog Timer)的正确配置,以及冗余设计在关键路径中的实现。在电磁兼容性(EMC)方面,本章提供了抗静电放电(ESD)保护电路的设计准则,特别是对敏感输入/输出端口的保护策略,包括TVS管的选择与布局。此外,还涵盖了热管理设计,如何通过热仿真指导散热器和通风系统的设计,确保器件在额定温度范围内运行。 结论 《现代电子元器件与电路设计实践指南》致力于提供超越教科书范畴的知识深度,侧重于当前工程实践中的难点与热点。本书不涉及重复性的基础概念,而是直接切入高性能设计所需的专业技术和前沿元器件的应用细节,旨在成为读者在面对复杂、创新性电子系统设计挑战时的必备工具书。通过对新材料、新架构和系统级优化的深入剖析,读者将能够自信地驾驭下一代电子产品的设计与实现。

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读后感

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从专业性的角度来看,这本书在理论深度上表现得相当肤浅和零散。它似乎想面面俱到,结果却是样样都蜻蜓点水。例如,在阐述运放的基本噪声模型时,只是简单地罗列了几个公式,却从未深入剖析不同噪声源(如闪烁噪声、热噪声)在不同工作频率下的特性曲线和对整体系统性能的影响。对于参数的选取,它只是给出了一个“经验值”,而没有提供任何基于系统指标反推参数的设计流程。这种“知其然而不知其所以然”的写作风格,对于希望通过阅读手册来提升设计能力的人来说,是极其不负责任的。一本好的手册应该提供设计工具和思维框架,而不是仅仅是数据的堆砌。这本书更像是一个没有附带使用说明书的工具箱,里面的工具虽然都有,但你不知道该如何正确、高效地使用它们来解决一个真实世界的问题。

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这本《经典集成电路应用手册》的排版简直是灾难,我拿到手的时候,首先映入眼帘的就是那些密密麻麻的文字和图表,完全没有呼吸感。作为一本“应用手册”,它本该提供清晰、直观的指导,让读者能够快速定位所需信息,但事实恰恰相反。索引系统做得极其混乱,当你试图查找某个特定型号的器件时,需要翻阅好几页才能勉强找到相关章节,而且即便是找到了,里面的描述也常常是晦涩难懂的术语堆砌,仿佛作者写给的是同行中的顶尖专家,而非广大的工程技术人员。很多关键的电路原理图细节模糊不清,线条重叠,分辨率极低,这对于需要精确参考的工程师来说简直是致命伤。我甚至怀疑他们是不是直接扫描了上世纪的老旧文献就拿来出版了,完全没有考虑到现代阅读习惯和技术标准。这种对读者体验的漠视,使得这本书的实用价值大打折扣,每一次翻阅都变成了一场煎熬的探索。

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我原以为这本手册会涵盖当前主流的、最新的半导体技术和应用案例,毕竟“经典”二字也应该包含一些经久不衰且具有现代参考价值的内容。然而,翻阅下来,感觉内容停留在上个世纪的某个时间点,很多介绍的芯片型号早已被市场淘汰,即使是作为历史参考,其深度和广度也远远不够。比如,在谈到数字信号处理部分时,对现代高速ADC/DAC的性能指标和设计考量几乎只字未提,取而代之的是一些速度慢、精度低的早期架构讲解。更令人费解的是,书中很多“应用实例”都显得过于理想化,完全脱离了实际工程中遇到的噪声、散热、电源波动等复杂问题。每一个例子都像是教科书上的标准模型,一旦你试图将其应用到实际电路板上,就会发现根本无法复现预期的结果。这让这本书与其说是“应用手册”,不如说是一本过时的、缺乏实战经验的理论汇编。

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作为一本工具书,我最看重的是其查阅的便捷性和内容的准确性。不幸的是,这本书在这两方面都表现平平,甚至可以说是不合格。我注意到好几个地方的数据似乎存在笔误或者引用错误,这在集成电路这种对精度要求极高的领域是绝对不能容忍的。比如,某个三端稳压器的最大输出电流值,与我在官方数据表上查到的数值相差了近20%,如果不是我留了个心眼去交叉验证,很可能就会在设计中引入一个潜在的过流风险。这种低级的错误在整本书中并非孤例,这让我对其他更复杂、更隐蔽的参数可靠性产生了严重的怀疑。一本工具书的价值建立在读者对它的绝对信任之上,而这本书的低级错误正在不断地侵蚀这种信任基础,让读者不得不花费大量时间去重新核实每一个关键数据点。

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这本书的语言风格极其古板和生硬,读起来有一种浓重的翻译腔,或者说是那种很久以前的中文技术文献的刻板味道。句子结构冗长复杂,动词和名词的搭配也常常显得不自然。例如,在解释某个晶体管的工作模式时,会使用诸如“此种配置下,其电子流动的势能分布区域将趋于饱和状态的临界值”之类的绕口表达,而不是用更简洁的“晶体管进入饱和区”来概括。这种不必要的复杂性极大地拖慢了阅读速度,也增加了理解的难度,尤其是在需要快速查阅资料解决现场问题时,这种阅读障碍是无法容忍的。如果作者的本意是追求学术的严谨性,那么至少也应该在保持专业的同时,确保语言的流畅性和可读性,但很显然,在这本书里,这两者都被牺牲了。

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