引信试验鉴定技术

引信试验鉴定技术 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:国防工业出版社
作者:张景玲
出品人:
页数:333
译者:
出版时间:2006-4
价格:36.00元
装帧:精裝本
isbn号码:9787118044461
丛书系列:
图书标签:
  • 引信
  • 试验
  • 鉴定
  • 技术
  • 爆破
  • 工程
  • 安全
  • 检测
  • 炸药
  • 评估
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具体描述

本书从分析引信相关性能入手,详细介绍了引信试验鉴定理论、试验思路和具体试验设计方法,在内容上尽量避免与现有国军标、试验方法和相关教材的重复,适合于从事引信试验鉴定工作的初、中级工程技术人员系统学习引信试验鉴定方面的知识。

本书共分12章,第1章主要介绍了引信的分类、对引信的战术技术要求以及引信试验技术发展沿革;第2章至第4章分别介绍了引信主要机构及作用原理、引信的使用环境分析和目标特性分析,为后续试验设计奠定了基础;第5章介绍了引信试验测试技术;第6章介绍了进行引信试验设计的方法;第7章至第11章分别介绍了引信的安全性试验、作用可靠性试验、保险性能试验、环境适应性试验及其它性能试验方法;最后一章介绍了引信技术及引信试验技术的发展前景。

《电子元器件可靠性:从设计到失效分析》 本书深入探讨了电子元器件在不同应用环境下的可靠性问题,旨在为工程师和技术人员提供一套系统性的可靠性评估和提升解决方案。本书内容涵盖了电子元器件的失效机理、可靠性设计原则、失效分析方法以及相关的测试与鉴定技术。 第一部分:电子元器件的失效机理与可靠性基础 本部分首先介绍了电子元器件失效的常见原因,包括物理损伤、化学腐蚀、电气过载、环境因素(如温度、湿度、振动、辐射)以及设计和制造缺陷等。通过详细分析不同类型元器件(如半导体器件、电阻、电容、电感、连接器等)的典型失效模式,为后续的可靠性评估奠定基础。在此基础上,本书阐述了可靠性的基本概念、数学模型(如指数分布、威布尔分布)以及常用的可靠性指标(如失效率、平均无故障时间MTTF、平均故障间隔时间MTBF)。 第二部分:电子元器件的可靠性设计与制造 本部分聚焦于如何在电子元器件的设计和制造阶段就融入可靠性思维。内容包括: 设计可靠性: 详细讲解了如何通过元器件选型、电路设计(如过压保护、过流保护、温度管理)、布局布线优化、材料选择等手段来提高元器件的固有可靠性。重点关注降额设计原则及其应用,以延长元器件的工作寿命。 制造工艺可靠性: 探讨了制造过程中可能引入的缺陷,如焊接问题、封装缺陷、材料污染、应力集中等,并介绍了如何通过严格的工艺控制、质量检测和过程监控来预防和消除这些缺陷。 环境适应性设计: 强调了在设计阶段考虑元器件在不同工作环境下的表现,包括高温、低温、高湿、低压、振动、冲击、盐雾、霉菌等环境因素对元器件性能的影响,以及相应的防护设计措施。 第三部分:电子元器件的失效分析技术 本部分是本书的核心内容之一,详细介绍了用于识别和分析电子元器件失效原因的各种技术手段。内容包括: 失效模式识别: 如何通过初步的电学测量、外观检查、操作历史分析等手段,对失效元器件进行初步的失效模式推断。 非破坏性失效分析(NDFA): 介绍了一系列不损坏元器件本体的分析方法,如X射线成像(用于检测内部缺陷、开路、短路)、声学显微镜(用于检测内部空洞、分层)、红外热成像(用于定位发热点,检测短路或漏电)、电学参数测试(在不同条件下测量关键参数变化)等。 破坏性失效分析(DFA): 详细阐述了在必要时对元器件进行破坏性处理以深入分析的各种技术,包括: 解剖分析(Decapsulation): 介绍各种化学或物理去封装方法,以暴露芯片内部结构。 显微镜检查: 包括立体显微镜、扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM),用于观察芯片表面、内部结构、腐蚀痕迹、断裂等微观形貌。 能谱分析(EDS/EDX): 与SEM联用,用于分析失效区域的元素组成,识别污染物或材料异常。 电路探测: 在芯片表面进行细致的电学探测,以定位开路或短路点。 断裂分析: 通过金相显微镜等手段分析材料的断裂模式,以确定失效的力学因素。 堆叠层分析(Cross-sectioning): 对失效区域进行精确的截面制备,以便在显微镜下观察内部结构,分析层间缺陷、腐蚀扩散等。 失效机制的确定: 如何综合运用以上分析结果,确定元器件失效的根本原因,是设计问题、制造缺陷、材料不匹配,还是工作环境超出承受范围。 第四部分:电子元器件的可靠性测试与鉴定 本部分介绍了一系列用于评估和证明电子元器件可靠性的测试方法和标准。内容包括: 加速寿命试验(ALT): 讲解了如何通过提高试验条件(如温度、电压、电流、湿度、振动等),缩短试验时间,以预测元器件在正常使用条件下的寿命。重点介绍不同类型加速试验的设计原则、数据分析方法(如Arrhenius模型、Eyring模型)和结果外推。 环境应力筛选(ESS): 阐述了如何通过周期性的环境应力(如温度循环、随机振动、高低温储存等)来筛选出在制造过程中可能存在的潜在缺陷元器件,从而提高产品出厂时的可靠性。 特定环境测试: 详细介绍了针对不同应用场景的特殊测试,如高加速应力测试(HAST)、高湿度高电应力老化试验(HHBT)、卤素腐蚀试验、高低温循环试验、振动试验、冲击试验、盐雾试验、霉菌试验等。 可靠性鉴定试验: 讲解了如何根据客户需求或行业标准(如MIL-STD、IEC、JEDEC标准)来设计和执行可靠性鉴定试验,以证明元器件满足预定的可靠性要求。 量产应力筛选(HASS): 介绍在批量生产过程中进行的,旨在利用比正常工作条件更高的应力来发现和排除制造过程中的早期失效。 第五部分:可靠性数据管理与改进 本部分强调了建立有效的可靠性数据管理体系,并利用数据进行持续改进的重要性。内容包括: 可靠性数据的收集与记录: 如何系统地收集和记录设计、制造、测试、失效分析和现场使用过程中的可靠性数据。 可靠性数据库的建立与维护: 介绍如何建立和维护一个有效的可靠性数据库,以便进行趋势分析和历史查询。 基于数据的可靠性改进: 如何利用收集到的可靠性数据,识别薄弱环节,制定改进措施,并验证改进效果。 可靠性预测与评估: 介绍基于历史数据、模型或专家经验进行元器件可靠性预测的方法。 本书内容条理清晰,理论与实践相结合,旨在为读者提供一套完整、实用的电子元器件可靠性工程指南,帮助他们更好地理解、设计、制造、测试和分析电子元器件的可靠性,从而提升电子产品的整体质量和市场竞争力。

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读后感

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用户评价

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这本书对于那些习惯于线性思维的人来说,可能需要一些适应的时间。它的结构并非传统的“提出问题—解决问题”模式,而更像是一张相互关联的思维网络图谱。作者在不同章节之间跳跃,但最终所有的线索都会汇聚到一个核心观点上:真正的理解,来自于对连接的洞察,而非对孤立事实的记忆。我尤其对书中关于“沉默的证据”的分析印象深刻。很多时候,我们只关注被展示出来的“发生”了什么,却忽略了那些“没有发生”或被刻意隐藏起来的信息。作者用极具说服力的篇幅,论证了这些“未被言说”的部分,往往才是决定事件走向的关键。这本书的价值不在于它提供了多少现成的知识点,而在于它重塑了读者的知识获取和加工流程。它更像是一套高级的“思维操作系统升级包”,让原有的信息处理速度和准确性得到了质的飞跃。

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我得说,这本书的文字功底极其深厚,但绝非那种故作高深的学术腔调。它更像是一位经验老道的侦探,带着你一步步走进案发现场,但展示给你的不是血腥的细节,而是那些决定性的、常人容易忽略的微小线索。我原本以为这种偏向于方法论和认知的书籍会显得枯燥乏味,但作者的叙事节奏掌握得炉火纯青。时而娓娓道来,剖析历史上的经典误判案例,让你在故事中领悟精髓;时而笔锋一转,用精妙的比喻将复杂的认知偏差现象描绘得淋漓尽致。其中关于“确认偏误”的章节,对我触动最大。作者没有简单地定义这个概念,而是通过一系列精心设计的场景模拟,让我们真切地感受到这种心理陷阱是如何悄无声息地影响我们的决策。这种沉浸式的阅读体验,使得书中的理论不再是冰冷的文字,而是活生生的思维工具。它成功地将原本晦涩的心理学和逻辑学原理,转化成了一种人人都可以掌握的、提升生活质量的实用技能。

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这本书真是让人眼前一亮,它以一种非常细腻且富有洞察力的方式,探讨了在信息爆炸时代,我们如何辨别信息的真伪和价值。作者并没有停留在泛泛而谈的表面,而是深入挖掘了那些隐藏在复杂叙事背后的逻辑链条。读完后,我感觉自己仿佛经历了一场思维的“脱敏”过程,对那些看似权威的论断,多了一层审视的眼光。特别是书中关于“证据链条的构建与解构”那一部分,简直是教科书级别的分析。它不仅提供了实用的工具和方法,更重要的是,引导读者去思考“为什么我们相信我们所相信的”。这种从宏观到微观的视角转换,让原本抽象的认知过程变得具体可感。我尤其欣赏作者在论述中保持的克制和客观,没有预设立场,而是鼓励读者自己去搭建判断的框架。这种引导式的写作手法,比直接灌输结论要高明得多,因为它真正培养的是读者的批判性思维能力,而非仅仅是知识的接收。对于任何在信息洪流中感到迷失的人来说,这本书都是一盏指路的明灯,它教你的不是“看什么”,而是“如何看”。

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读完这本书,我最大的感受是“清醒”。这并非那种充满激情的瞬间顿悟,而是一种持久的、冷静的认知升级。作者的语言风格极为冷静、精确,如同手术刀般精准地切开复杂的议题。它不迎合大众情绪,不追求哗众取宠的结论,而是专注于展示事物运作的“机械原理”。我最喜欢其中关于“叙事权力的转移”的讨论。在当今这个媒体景观如此复杂的时代,谁掌握了如何讲述故事,谁就掌握了定义现实的权力。这本书通过对不同历史时期媒体形态演变的梳理,清晰地勾勒出这种权力转移的脉络。它不是一本教你如何“反驳”的指南,而是一本教你如何“构建”自身认知壁垒的说明书。阅读过程就像是进行一场精密的设备校准,每一个章节都在调整我们感知世界的参数,让我们的“内部指南针”指向更真实的方向。

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坦率地说,这本书的深度远超出了我最初的预期。我最初购买它,是希望找到一些快速提高信息处理效率的“捷径”,但作者提供给我的却是一条更漫长、但也更坚实的基础建设之路。这本书的核心价值在于它构建了一个多维度的分析框架,这个框架不仅适用于处理日常的新闻事件,甚至可以延伸到商业决策、人际关系乃至个人信仰的审视。我特别欣赏作者对“时间维度”的考量。很多信息看似是孤立的事件,但只有放入一个更长的时间序列中考察,其真实的意图和影响才会显现。书中对“预言的效力”那段论述,简直是醍醐灌顶,它揭示了许多看似准确的预测,其背后隐藏的统计学陷阱和动机驱动。这本书没有给我们提供快速的答案,而是提供了一套高质量的问题。它迫使你不断地向内和向外提问,直到你能够清晰地描绘出信息流动的全貌。这种对系统性思考的强调,是它与其他同类书籍最大的区别。

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