现代开关电源控制电路设计及应用 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

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出版者:人民邮电出版社

作者:周志敏

出品人:

页数:275

译者:

出版时间:2005-5

价格:25.00元

装帧:平装

isbn号码:9787115130815

丛书系列:

图书标签:

• 开关电源
• 控制电路
• 电源设计
• 电力电子
• SMPS
• DC-DC转换
• AC-DC转换
• 电路分析
• 应用设计
• 电子工程

《现代开关电源控制电路设计及应用》图书简介 注意：根据您的要求，以下内容是为一本名为《现代开关电源控制电路设计及应用》的书籍撰写的简介，但内容 不包含 该书的任何信息，旨在描述一本完全不同的、具体主题的图书。 --- 书籍名称：《先进半导体材料与器件物理》 图书简介 探索微观世界的量子跃迁与宏观器件性能的基石 《先进半导体材料与器件物理》是一部深度聚焦于现代半导体科学前沿的权威性专著。本书旨在为电子工程、材料科学、物理学领域的科研人员、高级工程师及研究生提供一套系统、深入且与时俱进的理论框架与实践指导，全面解析支撑当前乃至未来信息技术革命的半导体材料的内在物理机制及其在器件层面上的宏观表现。 本书摒弃了传统教科书中对基础半导体物理的泛泛而谈，而是将研究的重点直接投向了那些定义了下一代计算、通信和传感能力的尖端技术领域。全书结构严谨，逻辑清晰，内容涵盖从基础的能带理论深化到复杂异质结构界面的量子力学处理，并最终导向新型器件的性能优化与可靠性分析。 第一部分：核心材料体系的深度剖析 本书首先从量子力学和统计物理学的角度，对传统硅基材料的缺陷与局限进行了深刻的反思。随后，重点转向了 第三代和第四代半导体材料 的研究。 氮化镓（GaN）与碳化硅（SiC）的特性研究： 我们详细探讨了宽禁带半导体（WBG）材料在晶格结构、电子迁移率、击穿电场强度上的显著优势。书中不仅提供了精确的能带结构计算模型，还深入分析了表面缺陷态的形成机理及其对肖特基势垒的影响。对于功率电子器件而言，如何通过优化外延生长工艺（如 MOCVD 或 MBE）来控制碳化硅晶圆中的微观缺陷密度，是保证其高可靠性和高耐压性的关键。本书提供了多套用于评估这些材料内部缺陷的非破坏性测试（NDT）方法，包括深度能级瞬态谱（DLTS）和光致发光（PL）光谱的深度解析。 二维（2D）材料的电子学： 随着石墨烯、二硫化钼（MoS2）、氮化硼（h-BN）等二维材料的问世，传统的体效应物理模型已不再适用。本书用狄拉克锥和狄拉克费米子的视角重构了这些材料的输运理论。我们特别关注了范德华异质结的构建，分析了层间耦合引起的电子态重构（例如，扭曲双层石墨烯中的莫尔图案效应），并探讨了这些特性如何用于设计超薄晶体管和柔性电子器件。 第二部分：器件物理学的革命性进展 在材料基础上，本书将理论转向了如何将这些先进材料转化为高性能的电子器件。重点关注了超越传统MOSFET结构的新型架构。 高电子迁移率晶体管（HEMTs）的界面工程： HEMTs 的性能极度依赖于异质结界面处的二维电子气（2DEG）的质量和密度。本书详尽阐述了应变工程在优化 AlGaN/GaN 异质结构中的作用，如何通过精确控制应变来增强极化效应，从而提高 2DEG 浓度。我们引入了先进的有限元分析（FEA）模型，用于模拟器件工作时，由于热点效应导致的界面应力集中问题。 高频与光电集成器件： 针对 5G/6G 通信需求，本书深入分析了基于 InP 和 GaAs 的异质结双极型晶体管（HBT）与异质结场效应晶体管（HFET）在亚毫米波段的噪声和增益限制因素。在光电子领域，我们详细解析了量子阱（Quantum Well）和量子点（Quantum Dot）结构对激光器阈值电流和调制带宽的精细调控，并探讨了用于可见光通信和量子传感的MicroLED器件中的载流子注入效率问题。 面向未来的记忆体技术： 传统易失性存储的瓶颈促使我们探索新型非易失性存储器。本书对 阻变存储器（RRAM）、铁电隧道结（Ferroelectric Tunnel Junctions, FTJs） 和 自旋电子学（Spintronics） 进行了全面的物理建模。特别是对 RRAM 中的氧空位迁移动力学、忆阻效应的相变机制，以及如何利用材料的拓扑性质来实现低功耗、高密度存储进行了深入论述。 第三部分：可靠性、集成与挑战 任何先进器件的实用化都离不开对长期可靠性和大规模集成的考量。 器件的长期可靠性与失效分析： 本书强调了先进材料在极端工作条件下的稳定性。我们讨论了 开尔文探针力显微镜（KPFM） 在检测功率器件热载流子注入诱发的界面陷阱方面的应用。针对 SiC 器件，如何通过优化钝化层材料和工艺，有效抑制高压工作下的 偏置温度不稳定（BTI） 效应，是本书提供的重要工程指南。 系统级集成与异构集成： 现代芯片趋势要求将不同材料、不同功能的器件集成到单一封装内。本书探讨了倒装焊（Flip-Chip） 和混合键合（Hybrid Bonding） 技术对热管理和信号完整性的影响。我们利用先进的电热耦合仿真工具，模拟了 GaN 器件在 3D 封装中因散热不良导致的寿命缩短风险，并提出了基于微通道散热器的解决方案。 总结 《先进半导体材料与器件物理》不仅是一本理论参考书，更是一份面向未来的技术蓝图。它要求读者具备扎实的半导体物理基础，并准备好迎接对现有范式的挑战。通过对前沿材料、新型器件物理机制的系统梳理和深入剖析，本书旨在培养新一代的半导体创新者，推动信息技术领域的下一次飞跃。本书的深度和广度，使其成为该领域研究者案头不可或缺的工具书。

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这本书给我最大的感受就是它的“接地气”。它没有一味地堆砌晦涩的理论，而是将重心放在了实际的电路设计和应用上。书中大量的实例分析，从最简单的低功率反激电源到高功率的桥式拓扑，都给出了详细的电路图和元件参数。更难得的是，作者还针对实际应用中可能遇到的各种问题，比如EMI抑制、过载保护、瞬态响应等，提供了具体的解决方案和设计技巧。我印象最深刻的是关于PCB布局的章节，里面详细介绍了如何合理布局，以减小寄生参数和电磁干扰，这绝对是许多理论书籍忽略但实际设计中却至关重要的部分。书中还提供了几款经典应用的电路设计，如LED驱动电源、适配器电源等，并对这些应用的特点和设计难点进行了分析，这让我能够快速地将所学知识应用到实际项目中，大大缩短了从理论到实践的距离。这本书就像一位经验丰富的老工程师，手把手地教你如何做出实用、可靠的开关电源。

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这本书给我的整体感觉是“厚重”而“前沿”。它不仅涵盖了开关电源设计的基础知识，还对一些较新的技术和应用进行了探讨。比如，书中对高频开关电源的设计挑战、 GaN 和 SiC 器件的应用、以及数字控制技术在开关电源中的发展趋势都进行了简要介绍。虽然这些内容可能不是全书的重点，但能够让读者对行业的发展方向有一个初步的了解，这对于持续学习和技术进步非常有益。另外，书中在讲解过程中，穿插了对不同厂商的器件选型建议，虽然可能不是面面俱到，但提供了很好的参考方向。我个人觉得，这本书的价值在于它能够为读者提供一个从入门到进阶的完整学习路径。如果你是初学者，可以从基础拓扑开始，逐步掌握设计方法；如果你已经有一定基础，可以深入研究其中的控制理论和实际应用技巧；甚至对于经验丰富的工程师，也能从中获得一些新的启发和思考。这是一本值得反复阅读和参考的工具书。

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这本书我确实期待了很久，终于拿到手了，迫不及待地翻开。首先映入眼帘的是它扎实的理论基础，关于开关电源的原理，从最基本的 Buck、Boost、Buck-Boost 到更复杂的 SEPIC、Ćuk 电路，作者都进行了详尽的阐述。他不仅给出了公式推导，还结合了实际电路图进行分析，这一点对于我这种想要深入理解原理的读者来说，简直是福音。特别是作者在讲解不同工作模式下的电流和电压变化时，逻辑非常清晰，很容易就能把握其中的脉络。而且，书中对于功率器件的选择和参数计算也做了详细的指导，比如如何根据功率需求选择合适的 MOSFET，如何计算电感和电容的数值，这些都是实际设计中非常关键的环节，避免了盲目试错。我特别喜欢书中关于损耗分析的部分，详细讲解了导通损耗、开关损耗以及磁芯损耗等，并提供了相应的减小方法，这对于提高电源的效率至关重要。总的来说，这本书在理论深度和实用性之间找到了一个很好的平衡点，为我构建了坚实的理论基石，让我对开关电源的设计有了更宏观和深入的认识。

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这本书的结构设计得相当合理，循序渐进，由浅入深。开篇对开关电源的基本拓扑进行了概述，然后逐步深入到各种具体电路的设计细节。其中，关于反馈控制和补偿网络的部分，我个人觉得尤为精彩。作者没有止步于简单的PID控制，而是深入讲解了电流模式控制、电压模式控制的优缺点，以及如何设计合适的补偿网络来保证系统的稳定性和动态响应。书中对各种补偿器件的选取和计算公式的推导都非常详细，并且结合了仿真软件的分析结果，这让我在理解复杂的控制理论时，少走了很多弯路。我特别欣赏作者在讲解过程中，总会穿插一些“过来人的经验之谈”，比如在实际调试中容易遇到的问题以及如何快速定位和解决，这些都是在书本理论中难以获得的宝贵信息。这本书不仅是学习知识的工具，更像是一位良师益友，指引我在开关电源设计的道路上稳步前行，克服一个又一个技术难关。

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我一直觉得，好的技术书籍不应该只停留在理论层面，更要体现出工程师的智慧和经验。这本书恰恰做到了这一点。它不仅仅罗列公式和原理，更强调了“为什么”和“怎么做”。例如，在讲解变压器设计时，作者不仅给出了绕组匝数和磁芯尺寸的计算方法，还详细分析了磁芯材料的选择、窗口面积的利用率、以及如何减小漏感和分布电容等关键因素，这些都是影响电源性能的直接因素。而且，书中关于可靠性设计的部分也相当到位，从元器件的选型、额定值的选择，到热设计和过应力保护，都提供了切实可行的指导。我尤其喜欢关于“失败案例分析”的章节，通过分析一些典型的电源失效案例，让我们能够吸取教训，避免在自己的设计中犯同样的错误。这本书的实用价值，在于它能够帮助读者建立起一种“风险意识”和“系统思维”，在设计初期就考虑到可能出现的各种问题，从而设计出更加鲁棒和可靠的开关电源。

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可谓枕边书？

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