电子信息类专业课英语

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出版者:电子科技大学出版社
作者:吴军蹄
出品人:
页数:0
译者:
出版时间:2003-11-01
价格:23.00元
装帧:
isbn号码:9787810659567
丛书系列:
图书标签:
  • 电子信息
  • 专业英语
  • 英语学习
  • 工科英语
  • 电子工程
  • 信息技术
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具体描述

本书是一本系统地介绍如何进行电子信息类专业课英语(双语)教学及国际学术交流应用与实践的图书,分两部分(引言、十七章),本书提出了用“主动探索替代被动接受”的外语教学方法,并围绕这一方法开展了深入的理论和实践探索,介绍了教师怎样教、学生如何学、怎样宣读学术论文、怎样主持学术讨论会、怎样写作论文主体项目、怎样分类选择句式用语,以及电子信息类专业外语词汇介绍,专业课“多媒体通信技术”的外语教学实践介绍等

好的,以下是一份关于《电子信息类专业课英语》以外书籍的详细简介,严格控制内容,不包含任何提及该书的内容,字数在1500字左右。 --- 《现代集成电路设计与制造技术》 书籍简介 本书旨在为电子信息工程、微电子科学与工程等相关专业的学生和工程师提供一个全面、深入的集成电路(IC)设计与制造技术指南。本书覆盖了从器件物理基础到先进封装技术的完整产业链环节,内容组织逻辑清晰,理论与实践相结合,旨在帮助读者建立扎实的理论基础,并掌握当前行业主流的设计流程与制造工艺。 第一部分:半导体器件与工艺基础 本书的开篇深入探讨了半导体物理学和MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)的工作原理。我们详细阐述了PN结、肖特基势垒的形成机制,以及载流子的输运特性。在此基础上,本书重点介绍了CMOS器件的结构演变,从传统的体CMOS到浅沟槽隔离(STI)、高K介质/金属栅(HKMG)技术,以及FinFET结构的关键设计参数和性能影响。 在制造工艺部分,本书系统地介绍了硅片准备、氧化、掺杂、薄膜沉积(包括CVD、PVD、ALD)、光刻(从g线、i线到DUV和EUV技术)以及刻蚀工艺。特别地,我们对先进工艺节点中的关键挑战,如线宽控制、缺陷密度管理和互连线的可靠性问题进行了详细的分析,并介绍了当前业界在28nm及以下节点中采用的解决方案。 第二部分:模拟集成电路设计 模拟电路是所有电子系统的基石。本部分侧重于高精度、高性能模拟电路的设计方法。内容涵盖了运放(Operational Amplifier)的设计原理,包括跨导放大器(OTA)的结构选择、频率补偿技术(如密勒补偿、多相位补偿)以及噪声和失真分析。我们深入探讨了数据转换器(ADC/DAC)的设计,重点讲解了流水线ADC、Sigma-Delta调制器以及SAR ADC的架构选择、量化噪声整形和系统级优化。此外,本书还包括了锁相环(PLL)、低噪声放大器(LNA)和混频器等射频前端电路的设计实例,强调了版图对模拟性能的决定性影响。 第三部分:数字集成电路设计与验证 数字IC设计是当前集成电路领域发展最快的方向之一。本书采用自顶向下的设计流程,从系统级建模开始,详细讲解了算法的硬件实现和RTL(寄存器传输级)编码。重点内容包括组合逻辑电路和时序逻辑电路的设计优化,如逻辑综合、静态时间分析(STA)和时钟树综合(CTS)。 验证是数字IC设计中耗时最长的环节。本书系统地介绍了功能验证、形式验证和物理验证的流程。功能验证部分涵盖了Testbench的构建、激励生成、断言(Assertion-based Verification)的应用以及覆盖率的度量。在物理验证方面,本书详细讲解了DRC(设计规则检查)、LVS(版图与原理图对比)以及ERC(电气规则检查)的原理和在实际流片中的重要性。 第四部分:先进封装与系统级集成 随着摩尔定律接近物理极限,先进封装技术已成为提升系统性能的关键。本书介绍了传统封装(如QFN、BGA)和现代先进封装技术,如2.5D/3D集成(TSV,Through-Silicon Via)和Chiplet技术。我们探讨了系统级封装(SiP)的设计挑战,包括热管理、信号完整性(SI)和电源完整性(PI)在多芯片堆叠环境下的影响,并介绍了系统级热仿真和电磁仿真工具的应用。 第五部分:可靠性与物理设计 集成电路的可靠性至关重要。本书涵盖了影响IC寿命的关键失效机制,如电迁移(EM)、热效应、静电放电(ESD)防护以及闩锁(Latch-up)的预防。在物理设计方面,本书详尽阐述了布局规划、单元布局、电源网络设计和布线策略,特别关注了低功耗设计(如时钟门控、电源门控)和高频设计中的串扰抑制技术。 总结 《现代集成电路设计与制造技术》不仅是一本教科书,更是一本实用的工程手册。它紧密结合了当前半导体行业的前沿技术和挑战,为读者提供了从基础理论到工程实践的完整知识体系,是电子信息领域专业人士案头必备的参考资料。 ---

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