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半导体材料测试与分析

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杨德仁
科学
2010-4
381
78.00元
半导体科学与技术丛书
9787030270368

图书标签: 物理  半导体分析  中国  简体中文    专业  2010   


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发表于2024-11-08

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图书描述

《半导体材料测试与分析》主要介绍半导体材料的各种测试分析技术,涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例等内容:包括四探针电阻率、无接触电阻率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱、深能级瞬态谱、正电子湮没、荧光光谱、紫外-可见吸收光谱、电子束诱生电流、I-V和C-V等测试分析技术。半导体材料是微电子、光电子和太阳能等工业的基石,而其电学性能、光学性能和机械性能将会影响半导体器件的性能和质量,因此,半导体材料性能和结构的测试和分析,是半导体材料研究和开发的重要方面。

《半导体材料测试与分析》可供大专院校的半导体物理、材料与器件、材料科学与工程和太阳能光伏等专业的高年级学生、研究生和教师作教学用书或参考书,也可供从事相关研究和开发的科技工作者和企业工程师参考。

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