Design, Automation, and Test in Europe pdf epub mobi txt 電子書 下載 2024
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Lauwereins, Rudy (EDT)/ Madsen, Jan (EDT)
2008-1
528
$ 145.77
9781402064876
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发表于2024-11-26
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圖書描述
In 2007 The Design, Automation and Test in Europe (DATE) conference celebrated its tenth anniversary. As a tribute to the chip and system-level design and design technology community, this book presents a compilation of the three most influential papers of each year. This provides an excellent historical overview of the evolution of a domain that contributed substantially to the growth and competitiveness of the circuit electronics and systems industry.
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