電工電子技術實驗指導 pdf epub mobi txt 電子書 下載 在線閱讀 2026

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出版者:

作者:華南理工大學廣州汽車學院電氣工程係 編

出品人:

頁數:171

译者:

出版時間:2009-8

價格:20.00元

裝幀:

isbn號碼:9787562328407

叢書系列:

圖書標籤:

• 電工技術
• 電子技術
• 實驗指導
• 電路分析
• 電子元件
• 電工實驗
• 電子實驗
• 實踐教學
• 高等教育
• 職業教育

好的，這是一份關於《電工電子技術實驗指導》之外的其他圖書的詳細簡介： --- 書名：《現代控製理論與係統設計》 內容簡介： 《現代控製理論與係統設計》是一部全麵而深入探討現代控製理論基礎及其工程應用的高級教材與參考書。本書旨在為讀者提供紮實的數學基礎和清晰的工程直覺，使他們能夠理解、分析和設計復雜的動態係統。全書結構嚴謹，從經典控製理論的局限性齣發，逐步過渡到狀態空間法、最優控製、魯棒控製以及非綫性控製等前沿領域。 第一部分：係統建模與時域分析 本書首先聚焦於動態係統的數學建模。詳細闡述瞭物理係統的建模方法，包括機電係統、熱係統和流體係統的建模過程。隨後，深入講解瞭綫性定常（LTI）係統的狀態空間錶示法，這是現代控製理論的基石。讀者將學習如何利用傳遞函數、零極點配置以及約旦標準型來分析係統的基本特性，如可控性、可觀測性和穩定性。對於多輸入多輸齣（MIMO）係統，本書提供瞭係統實現、結構分析及約旦分解的應用。時域分析部分詳盡討論瞭狀態反饋的原理，包括極點配置技術，並引入瞭狀態觀測器（如 Luenberger 觀測器）的設計，以解決狀態變量無法直接測量的實際工程問題。 第二部分：頻域分析與經典控製的擴展 盡管本書側重於現代控製，但對經典頻域分析方法仍進行瞭必要的梳理和深化。重點介紹瞭傳遞函數的頻域特性，如伯德圖、奈奎斯特圖和根軌跡的繪製與分析。本書的獨特之處在於，它將經典控製方法置於現代控製的框架下進行審視，例如，如何通過狀態反饋來改變係統的閉環極點，以及如何利用頻率響應數據來指導控製器（如 PID 控製器）的優化設計。對於係統的魯棒性初步探討，本書引入瞭增益裕度和相位裕度的概念，為後續的魯棒控製理論打下基礎。 第三部分：最優控製理論 最優控製是現代控製的核心內容之一。本書詳細介紹瞭二次型性能指標（Quadratic Performance Index）的構建，這是工程中最常用的性能評估標準。核心內容是綫性二次高斯（LQG）控製的設計。讀者將學習如何使用黎卡提方程（Riccati Equation）來求解最優狀態反饋增益 $K$ 和最優卡爾曼濾波器的增益 $L$。本書不僅推導瞭離散時間和連續時間係統的最優控製律，還通過具體實例展示瞭如何平衡係統的性能（快速性、精度）與控製器的復雜度。此外，本書還引入瞭變分法和龐特裏亞金極小值原理的概述，為更深入的研究提供理論支撐。 第四部分：魯棒控製與 $H_{infty}$ 控製 麵對模型不確定性和外部擾動，魯棒控製成為現代工程設計的關鍵。本書係統地介紹瞭魯棒控製的數學工具，特彆是奇異值分解（SVD）在分析係統不確定性對性能影響中的應用。核心章節集中於 $H_{infty}$ 控製理論。讀者將學習如何將控製問題轉化為標準的 $H_{infty}$ 控製器設計問題，通過求解兩組丟番圖方程（相關於 Riccati 方程的 $H_{infty}$ 形式）來確定控製器。本書的講解側重於理解 $H_{infty}$ 範數對係統輸入輸齣動態的限製意義，以及如何在性能和魯棒性之間進行權衡。 第五部分：非綫性控製與先進主題 現代控製的挑戰性很大程度上來源於非綫性特性。本書的最後部分介紹瞭處理非綫性係統的主要方法。首先是反饋綫性化技術，通過坐標變換和輸入變換使係統在局部錶現齣綫性行為。隨後，詳細探討瞭滑模控製（SMC）的設計與實現，這是一種對參數變化和外部乾擾具有內在魯棒性的控製策略。對於更復雜的非綫性係統，本書也引入瞭基於 Lyapunov 函數的穩定性分析方法，特彆是二級校正法（Second Method），這是判斷非綫性係統穩定性的基本工具。 適用對象與特點： 本書內容覆蓋麵廣，從基礎到前沿，適閤於控製工程、自動化、電子信息工程、機械工程等專業的高年級本科生、研究生以及從事係統控製設計和研究的工程師。本書的特點在於： 1. 理論深度與工程實用性並重： 每一個理論推導後都緊接著具體的工程案例分析。 2. 數學工具的清晰化： 對復雜的矩陣代數和優化理論進行瞭詳細的步驟分解，降低瞭理解門檻。 3. 麵嚮多學科的應用視角： 強調控製理論在電力係統、航空航天、機器人等不同領域中的普適性。 通過研讀本書，讀者將能夠熟練運用現代控製技術解決實際工程中的復雜控製問題，並為進一步探索自適應控製、智能控製等更深層次的領域做好準備。 --- 書名：《半導體器件物理與製造工藝》 內容簡介： 《半導體器件物理與製造工藝》是一本全麵介紹半導體材料基礎、關鍵器件工作原理及其工業化製造流程的權威性著作。本書旨在架起理論物理與集成電路（IC）工程實踐之間的橋梁，使讀者深刻理解微電子技術的核心科學與技術基礎。 第一部分：半導體物理基礎 本書的開篇詳盡闡述瞭半導體材料的量子力學基礎和能帶理論。深入分析瞭本徵半導體和摻雜半導體的電學特性，包括費米能級、載流子濃度和遷移率。重點講解瞭半導體中的關鍵輸運機製——漂移和擴散，並推導瞭歐姆定律在半導體內的微觀錶達式。對於PN結這一最基本的結構，本書從熱力學平衡和非平衡態（如光照、注入）兩個角度進行瞭深入的分析，詳細解釋瞭PN結的單嚮導電性、擊穿現象（雪崩擊穿與齊納擊穿）以及變容特性。 第二部分：關鍵半導體器件工作原理 在奠定瞭材料和PN結的物理基礎後，本書轉嚮核心器件的分析。 1. 雙極性晶體管（BJT）： 詳細分析瞭NPN和PNP晶體管的結構、電流放大機製和工作區劃分（截止、放大、飽和）。推導瞭Ebers-Moll模型及改進的Spice模型，並討論瞭高頻特性和二級效應（如基極厚度調製效應）。 2. 金屬氧化物半導體場效應晶體管（MOSFET）： 這是現代集成電路的基石。本書花費大量篇幅講解瞭MOS結構（絕緣體-半導體界麵）的電容-電壓（C-V）特性，包括耗盡型和增強型器件的閾值電壓的確定。隨後，深入分析瞭MOSFET的導通機製、跨導、輸齣特性麯綫的推導，並詳細比較瞭弱反型、強反型區的電流方程。同時，對短溝道效應、漏緻勢壘降低（DIBL）等現代器件必須考慮的物理現象進行瞭闡述。 3. 其他關鍵器件： 還包括肖特基二極管的物理特性、隧道二極管、以及光電器件（光敏電阻、太陽能電池、LED和激光二極管）的工作原理。 第三部分：集成電路製造工藝流程 本部分是本書的工程實踐核心，係統地介紹瞭現代IC製造的復雜流程，通常在潔淨室（Cleanroom）環境中進行。 1. 晶圓製備與氧化： 介紹瞭矽單晶的生長（直拉法/區熔法）、晶圓的切割、研磨和拋光技術。詳述瞭熱氧化（乾法和濕法）的物理化學過程，以及氧化層作為絕緣層和掩蔽層的重要性。 2. 薄膜沉積技術： 詳細介紹瞭物理氣相沉積（PVD），如濺射（Sputtering）和蒸發，以及化學氣相沉積（CVD），包括低壓CVD（LPCVD）和等離子體增強CVD（PECVD）在金屬、多晶矽和介質薄膜沉積中的應用。 3. 光刻（Lithography）： 這是決定集成電路特徵尺寸的關鍵技術。詳細講解瞭光刻的基本原理，包括光刻膠的化學組成、曝光過程、顯影和剝離。重點討論瞭先進光刻技術，如深紫外光刻（DUV）及其分辨率限製，並介紹瞭掩模版（Mask）的製作。 4. 摻雜技術（Ion Implantation）： 詳細描述瞭離子注入機的結構、注入過程的物理機理，以及注入後所需的退火（Annealing）工藝以修復晶格損傷和激活雜質。 5. 刻蝕（Etching）： 區分瞭濕法刻蝕（各嚮同性）和乾法刻蝕（反應離子刻蝕 RIE）。重點闡述瞭乾法刻蝕如何通過等離子體實現高深寬比和高選擇性的加工，這是製造微米甚至納米結構的基礎。 6. 互連與封裝： 討論瞭金屬互連層（鋁和銅）的形成，包括大馬士革（Damascene）工藝。最後，簡要介紹瞭芯片的測試、切割、鍵閤（Wire Bonding）以及最終的封裝形式（如DIP、QFP、BGA等）對器件電學性能和可靠性的影響。 讀者對象： 本書適閤於微電子學、集成電路設計與製造、材料科學、電子工程等專業的學生，以及在半導體行業從事器件研發、工藝集成或設備維護的技術人員。通過學習，讀者將能夠掌握從原子層麵理解半導體器件，到操作工業級製造設備的知識體係。

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從教學法的角度來看，這本書的編排理念是相當現代和前沿的。它不僅僅是告訴你“做什麼”，更重要的是引導你去思考“為什麼這樣做”。我特彆欣賞它在每個實驗項目開始前設置的“預習思考題”，這些問題往往不是簡單的知識點復述，而是要求學生對實驗結果進行預測和假設，這極大地鍛煉瞭學生的批判性思維和工程預判能力。例如，在介紹RC濾波電路的實驗時，它沒有直接給齣截止頻率的計算公式，而是讓學生先基於不同電阻和電容值的組閤，畫齣預期的頻率響應麯綫圖，然後再動手去驗證和修正自己的預測。這種“先猜想，後驗證”的過程，遠比死記硬背公式來得深刻和有趣得多，真正將“做中學”的教育理念落到瞭實處，而非淪為空洞的口號。

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這本書的裝幀和紙張質量屬於典型的“耐用型”，不是那種追求花哨外觀的精裝本，一看就是能伴隨我度過整個學期的“老夥計”。我特彆關注瞭其中關於數字邏輯電路實驗的部分。現在很多教材在講解CMOS和TTL邏輯門電路時，容易把兩者的特性混淆，導緻學生在實際搭建電路闆時經常遇到兼容性問題。而這本書則非常明確地劃分瞭這兩類器件的工作特性、功耗差異以及在特定應用場景下的選擇原則。更重要的是，它提供瞭一些經典但又容易齣錯的組閤邏輯電路（比如74係列芯片的應用）的故障排查案例，這些案例的描述極其生動，仿佛我正在實驗室的工位上，麵對著一個怎麼也點不亮的LED燈在冥思苦想。這種將“錯誤示範”納入教材的勇氣和實用性，是很多過於“完美化”的教材所不具備的，它教會瞭我們如何麵對真實世界中的不確定性。

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說實話，我對這種偏嚮工程實踐的書籍通常抱有較高的期待，畢竟理論知識的吸收需要通過實踐來固化。《電工電子技術實驗指導》在這一點上做得相當到位，它沒有停留在那種紙上談兵的層麵。我注意到它對一些關鍵的測量技巧和誤差分析有著獨到的見解。比如，在測量晶體管的靜態工作點時，書中不僅給齣瞭標準的操作流程，還特彆強調瞭萬用錶內阻對測量結果的影響，並提供瞭如何進行補償或校正的建議。這種對“細節決定成敗”的關注，纔是區分優秀實驗指導和普通指導的關鍵。我個人比較欣賞它在實驗設計上體現齣的循序漸進的邏輯性，實驗難度是逐步增加的，確保學生在掌握瞭基礎概念後，纔能迎接更復雜的係統集成挑戰。這種精心設計的學習路徑，極大地提升瞭學習的連貫性和深度，而不是讓學生像無頭蒼蠅一樣在知識點之間亂撞。

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拿到這本書時，我注意到它的附錄部分內容非常豐富，這往往是很多齣版社為瞭節約成本而簡化處理的地方。這裏的附錄詳細列舉瞭常用的電子元器件參數錶，包括電阻的標準色環代碼對照錶，以及常見集成電路（IC）的引腳功能圖。對於在實驗室中需要快速查找信息的學生來說，這簡直是救命稻草。我曾多次在緊急情況下，因為找不到某一個二極管的型號，而耽誤瞭整個實驗進度。這本書將這些散落在各處的手冊信息整閤在一起，極大地提高瞭實驗的效率和流暢性。總而言之，這本書的價值不僅在於其清晰的實驗指導步驟，更在於它全方位地構建瞭一個輔助學生解決實際操作中所有潛在問題的支持係統，體現瞭對學習者體驗的深切關懷，是一本真正意義上的“工具書”而非單純的“說明書”。

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這本書的封麵設計得非常樸實，一看就知道是那種專注於實用性的教材。我花瞭點時間翻閱瞭一下目錄，內容涵蓋瞭從基礎電路理論到半導體器件特性的方方麵麵。最讓我感到驚喜的是，它在講解每一個實驗原理時，都配有非常清晰的圖示和詳細的步驟說明，這一點對於初學者來說簡直是福音。我記得我大學剛開始接觸電子學的時候，光是理解歐姆定律的實際應用就費瞭九牛二虎之力，如果當時有這樣一本指導書，我肯定能少走很多彎路。特彆是關於示波器的使用部分，介紹得極其細緻，連波形捕捉和觸發條件的設置都講得明明白白，這通常是很多理論教材中一筆帶過，卻在實際操作中讓人抓耳撓腮的地方。看得齣來，編者在編寫過程中是真正站在瞭實驗者的角度去思考問題的，而不是單純地堆砌公式和概念。這本書與其說是一本實驗指導，不如說是一位經驗豐富的老教師在旁邊手把手地教你如何安全、高效地完成實驗，讓人感到非常踏實和可靠。

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