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Defects in Microelectronic Materials and Devices pdf epub mobi txt 電子書 下載 2024

Defects in Microelectronic Materials and Devices
☆☆☆☆☆
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Fleetwood, Daniel/ Pantolides, Sokrates/ Schrimpf, Ronald D.
770
1258.00 元
9781420043761

圖書標籤: 半導體   

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发表于2024-11-27

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圖書描述

Uncover the Defects that Compromise Performance and Reliability

As microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers and technologists completely understand how components can be damaged during the increasingly complicated fabrication processes required to produce them.

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著者簡介

Gate Dielectric Breakdown 方麵各界大牛

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