Stress-Induced Phenomena in Metallization pdf epub mobi txt 電子書 下載2025
出版者:American Institute of Physics
作者:Ho, Paul S.; Bravman, John; Li, Che-Yu
出品人:
頁數:304
译者:
出版時間:1996-04-15
價格:USD 140.00
裝幀:Hardcover
isbn號碼:9781563964398
叢書系列:
圖書標籤:
- Metallization
- Stress
- Thin Films
- Materials Science
- Failure Analysis
- Microstructure
- Mechanical Properties
- Semiconductors
- Reliability
- Corrosion
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