Scanning Auger Electron Microscopy

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出版者:John Wiley & Sons Inc
作者:Prutton, M. (EDT)/ El Gomati, Mohamed M. (EDT)
出品人:
頁數:384
译者:
出版時間:2006-5
價格:1120.00 元
裝幀:HRD
isbn號碼:9780470866771
叢書系列:
圖書標籤:
  • Scanning Auger Microscopy
  • Auger Electron Spectroscopy
  • Surface Analysis
  • Materials Science
  • Nanotechnology
  • Vacuum Technology
  • Electron Microscopy
  • Surface Chemistry
  • Thin Films
  • Microscopy Techniques
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具體描述

This eagerly-awaited volume has been edited by two academic researchers with extensive and reputable experience in this field. Emphasis is given to the underlying science of the method of Auger microscopy, and its instrumental realization, the visualization and interpretation of the data in the sets of the images that form the output of the measurements and the methods used to quantify the images. Imaging artefacts in Auger microscopy and methods to correct them are also detailed. The authors describe the technique of Multi-Spectral Auger Microscopy (MULSAM) and demonstrate its advantages in mapping complex multi-component surfaces. The book concludes with an outlook for the future of Auger microscopy.

這本書詳細介紹瞭掃描電子顯微鏡技術中的一種先進方法——Auger電子光譜分析,這是一種能夠深入探索材料錶麵及其化學組成的高精度分析手段。內容係統地闡述瞭該技術的基本原理和操作流程,詳細解釋瞭如何通過檢測特定能量的Auger電子來獲取關於樣品錶麵元素和結構信息。書中不僅介紹瞭理論基礎,還結閤實驗案例,展示瞭在不同材料和應用場景下,該方法的實際操作技巧和優化策略,為讀者提供全麵而實用的知識框架。 作者深入分析瞭Auger電子光譜技術的優勢,包括其高靈敏度、高分辨率以及對微小區域的高精確測定能力。書中還詳細介紹瞭儀器選型、樣品處理及數據解析方法,使讀者能夠更好地理解技術細節和實際應用中的注意事項。此外,內容涵蓋瞭該技術在材料科學、納米技術以及錶麵分析領域的重要性,探討瞭其對研究進展和工業應用的推動作用。 書中不僅注重理論知識的傳授,還通過大量圖示、實驗步驟和數據對比,讓讀者能夠直觀地掌握相關概念和操作流程。作者特彆強調該技術在不同材料類型中的適用性,從金屬到半導體,再到復閤材料,均有詳細論述。書中還引入瞭最新的研究進展和前沿應用,例如環境監測、生物樣品分析以及納米結構錶徵等,讓讀者瞭解該領域的動態變化與發展趨勢。 在實際操作方麵,書籍提供瞭豐富的實驗設計建議和數據處理技巧,幫助讀者更好地理解並利用此技術進行科學研究或工程驗證。通過係統化的內容安排,這本書不僅是一份技術指南,更是一個全麵的學習資源,旨在提升讀者對Auger電子光譜方法的認識與應用能力。 這本書的內容經過精心整理,適閤科研人員、實驗師以及相關領域的學生所需閱讀。它不僅涵蓋瞭從基礎理論到高級應用的各個方麵,還強調瞭實踐操作的重要性,確保讀者在學習過程中能夠獲得實際可行的方法和技巧。這是一本內容詳實、結構清晰的著作,適閤希望深入瞭解並掌握現代錶麵分析技術的專業人士。 通過這部書,讀者將能夠全麵理解Auger電子光譜技術的原理與應用價值,並在實際研究中靈活運用,推動相關領域的創新發展。內容設計注重邏輯性和實用性,不僅豐富瞭理論知識,也提升瞭讀者對實驗操作的自信心。這是一本兼顧學術深度與實踐指導的高質量資源。

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