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出版者:Marcel Dekker Inc

作者:Grieken, R. Van (EDT)/ Markowicz, Andrzej A. (EDT)/ Van Grieken, Rene E. (EDT)

出品人:

頁數:1016

译者:

出版時間:2001-11

價格:$ 350.24

裝幀:HRD

isbn號碼:9780824706005

叢書系列:

圖書標籤:

X-ray spectrometry
X-ray analysis
Material analysis
Spectroscopy
Analytical chemistry
Surface analysis
X-ray fluorescence
XRF
Materials science
Physics

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具體描述

"Updates fundamentals and applications of all modes of x-ray spectrometry, including total reflection and polarized beam x-ray fluorescence analysis, and synchrotron radiation induced x-ray emission. Promotes the accurate measurement of samples while reducing the scattered background in the x-ray spectrum."

《 Handbook of X-ray Spectrometry » 是一本旨在為研究者和實踐者提供全麵係統指導的經典參考書籍。這本書內容涵蓋瞭從基礎原理到高級應用的一係列知識，詳細介紹瞭各種類型的X射綫光譜技術及其應用場景。作者通過精心整理和深入剖析，為讀者打開瞭一扇理解復雜成像技術的大門。本書首先著重講述X射綫光譜學的基本概念和原理，係統闡述瞭X射綫生成、吸收及其在材料分析中的基礎知識。這一部分內容不僅介紹瞭不同類型的X射綫源，如射頻加速器和固態加速器，也詳細解釋瞭探測器的工作機製，使讀者能夠建立起紮實的理論基礎。接下來，書中深入探討瞭多種X射綫光譜技術，包括X射綫熒光光譜、X射綫衍射分析、能量色散檢測等，每一部分都配有豐富的實驗案例和實際應用場景，幫助讀者掌握這些方法在材料科學、地質學、醫學成像等領域中的具體應用。書中不僅記錄瞭大量圖錶和數據，還詳細描述瞭各類儀器的設計原理和操作流程，使得專業知識更易於理解和應用。此外，《 Handbook of X-ray Spectrometry » 對分析技術的發展曆程進行瞭係統迴顧，從早期X射綫探測到現代高分辨率光譜手段，每一階段的創新與突破都被詳細描述。這種曆史性梳理不僅強化瞭讀者對整個領域發展的理解，還為當前研究提供瞭寶貴的參考依據。書中還特彆關注瞭數據處理和圖像分析技術的發展，幫助讀者掌握最新的數據解析方法和工具使用。在應用部分，本書詳細介紹瞭X射綫光譜學在不同領域的實際操作過程，如礦物識彆、藥物成分檢測、地質探測等。這些案例不僅豐富瞭理論知識，還為讀者提供瞭實際操作的指南，使他們能夠將所學知識轉化為具體任務。書中還特彆強調瞭安全操作規範和環境保護的重要性，確保科研人員在實驗過程中能做到安全可控。通過這本書的內容，讀者不僅可以全麵掌握X射綫光譜學的理論知識，還能深入理解其在各個學科中的實際應用價值。無論是初學者還是已經有一定經驗的人士，都會從中獲得極大的啓發和指導。這本書以清晰明瞭、邏輯嚴密的結構，係統地傳授專業技能，是一套值得一參考的學術資源。總體而言，《 Handbook of X-ray Spectrometry » 是一部深具價值的專業參考書，它不僅在內容上豐富多樣，而且操作指南詳實，非常適閤需要深入瞭解和應用X射綫光譜技術的科研工作者和學生。這本書無疑是任何研究人員探索這一領域的重要工具。