Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits pdf epub mobi txt 電子書 下載 2024


Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits

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Sachdev, Manoj/ de Gyvez, Jose Pineda
Springer Verlag
2007-6
352
$ 213.57
HRD
9780387465463

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发表于2024-09-16

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圖書描述

The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield. The chapter on RAM testing has been updated with focus on parametric and SRAM stability testing. Similarly, newer material has been incorporated in digital fault modeling and analog testing chapters. The strength of Defect Oriented Testing for nano-Metric CMOS VLSIs lies in its industrial relevance.

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