Electron Tomography

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出版者:Springer Verlag
作者:Frank, Joachim 编
出品人:
页数:480
译者:
出版时间:2006-9
价格:$ 236.17
装帧:HRD
isbn号码:9780387312347
丛书系列:
图书标签:
  • 电子断层扫描
  • 三维重建
  • 生物结构
  • 细胞超微结构
  • 高分辨率成像
  • 材料科学
  • 纳米材料
  • 成像技术
  • 生物医学工程
  • 结构生物学
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具体描述

This definitive work provides a comprehensive treatment of the mathematical background and working methods of three-dimensional reconstruction from tilt series. Special emphasis is placed on the problems presented by limitations of data collection in the transmission electron microscope. The book, extensively revised and updated, takes the reader from biological specimen preparation to three-dimensional images of the cell and its components.

《Electron Tomography》是一本致力于为研究者和实践者提供全面且深入探索该领域的重要参考书籍。这本书系统地介绍了电子显微镜技术在现代科学研究中的应用,其核心内容涵盖了从基础原理到最新发展的高层次知识。作者精心设计的章节结构,使读者能够逐步理解电子显微镜的工作机制,掌握图像采集与处理的细致流程,并深入探讨其在材料科学、生物学及纳米技术等多个学科领域中的实际应用。 书中详细描述了电子显微镜的物理基础,包括电子波动理论与探测原理,为读者打下扎实的科学基础。同时,内容不仅涵盖传统形态学显微技术,还特别强调电子断层扫描(Tomography)的原理和操作流程,解释了如何通过不同角度和深度获取样品内部的高分辨率图像。这一部分尤其对希望深入理解三维成像技术的读者有极大帮助。 此外,该书还详细介绍了各种电子显微镜设备的选型与维护,强调不同场景下选择适合的显微系统的重要性。通过大量实例和案例分析,读者能够全面了解该技术在实际研究中的操作规范及优化方法。书中对数据处理与图像分析工具的介绍也相当详尽,使读者能够熟练运用现代计算工具进行图像后处理。 另一个重要部分是书中包含的大量实验数据和技术参数表,帮助科研人员准确评估不同设置对成像质量的影响,从而优化实验条件。同时,作者还特别注重环境控制与样品处理方法的讲解,对于保持样品状态、提高图像清晰度有显著作用。 书中内容不仅体现了深厚的学术研究基础,还结合最新科研进展,呈现出一份生动、实用且权威的资料集。这本书特别适合工程师、材料科学家、生物学家以及从事相关领域教学的人士参考使用。它以严谨的逻辑和详尽的数据支撑,为读者提供了一个全面深入的学习平台,帮助其在电子显微镜技术的复杂应用中找到应有的方向与解决方案。整个内容设计兼顾理论与实践,确保每一章都能真正服务于专业研究者,提升其技术水平和科研能力。

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