Low-Voltage Cmos Log Companding Analog Design

Low-Voltage Cmos Log Companding Analog Design pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:Kluwer Academic Pub
作者:Serra-Graells, Francisco/ Rueda, Adoracion/ Huertas, Jose L.
出品人:
页数:220
译者:
出版时间:
价格:149
装帧:HRD
isbn号码:9781402074455
丛书系列:
图书标签:
  • CMOS
  • 低压
  • 模拟电路
  • 对数压缩
  • 压缩器
  • 放大器
  • 低功耗
  • 模拟设计
  • 信号处理
  • Log Companding
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具体描述

模拟集成电路设计与实现:深度解析与前沿应用 本书籍聚焦于现代模拟集成电路设计中的核心挑战与创新解决方案,内容涵盖了从基础理论到复杂系统实现的全面知识体系。 本书旨在为电子工程师、高级技术人员以及研究生提供一份深入、实用的参考指南,帮助他们掌握高性能、低功耗模拟电路的设计艺术与工程实践。 本书的结构严谨,逻辑清晰,从最基本的半导体器件特性入手,逐步深入到复杂的电路拓扑和系统级集成。我们摒弃了对特定技术(如特定的CMOS设计风格或特定的压缩技术)的过度聚焦,转而强调通用设计原则、性能权衡分析以及跨领域的设计优化方法。 --- 第一部分:模拟电路设计基础与器件建模 本部分奠定了坚实的理论基础,是理解后续高级主题的先决条件。我们详细探讨了集成电路中关键有源和无源器件的非理想特性,并引入了现代工艺角下的精确建模方法。 第一章:集成电路中的半导体器件物理与模型 本章深入分析了MOSFET在亚微米甚至纳米尺度下的工作机制。重点关注了短沟道效应、陷阱效应、工艺角(PVT)变化对器件参数的影响。我们不局限于标准的平方律模型,而是引入了更贴近实际的BSIM模型族,并探讨了如何利用这些模型进行精确的电路仿真和参数提取。此外,我们对高频下的寄生效应(如栅极电阻、版图耦合)进行了详尽的分析,这些效应在高速模拟电路设计中至关重要。 第二章:噪声分析与抑制技术 噪声是模拟电路性能的头号敌人。本章系统地分类和量化了集成电路中所有主要的噪声源,包括热噪声、散粒噪声、闪烁噪声(1/f噪声)以及耦合噪声。我们详细阐述了如何运用傅里叶分析和功率谱密度(PSD)来评估电路的整体噪声性能。针对不同应用场景,我们提出了先进的噪声抑制策略,例如:差分结构的设计优化、噪声塑形技术、以及利用Chopper稳定化技术降低低频1/f噪声的工程实践。 第三章:反馈理论与稳定性分析 反馈是构建所有高性能模拟电路的核心机制。本章从严格的控制理论角度出发,重新审视了负反馈在运算放大器、电压基准和滤波器中的应用。我们详细讨论了增益带宽积(GBW)、相位裕度(PM)和群延迟等关键指标的计算与优化。本章特别强调了多级放大器补偿技术,包括经典的三极点补偿、零点设计,以及现代工艺中常用的Miller补偿和Nulling-Resistor补偿的优缺点对比。 --- 第二部分:核心模拟模块设计与优化 本部分聚焦于构成复杂模拟系统所必需的几个基础构建块,强调在给定工艺和功耗约束下的最优设计。 第四章:高性能运算放大器设计 本章超越了对Sallen-Key或两级OTA结构的简单介绍,深入研究了跨导放大器(OTA)和单位增益缓冲器(UGB)的拓扑选择。我们对比了折叠式共源共栅(FSC)、折叠式共栅(FC)以及共源共栅(CS-CG)结构的优劣,特别关注其在输出阻抗、共模抑制比(CMRR)和电源抑制比(PSRR)上的表现。本章还探讨了在大电流驱动能力要求下的输出级设计,包括AB类和G类输出级的功耗效率优化。 第五章:精密电压基准源与电流源 稳定的电压和电流基准是所有数据转换器和传感接口的基础。本章深入探讨了基于齐纳击穿效应的基准源(Bandgap Reference) 的设计。我们详细分析了如何实现温度漂移的最小化,包括利用二阶补偿技术消除初始的负温度系数,以及如何设计具备高输出阻抗的缓冲电路来隔离负载变化。对于电流源,我们讨论了对工艺和电源电压变化的鲁棒性设计,并引入了先进的镜像电流源拓扑以提高匹配精度。 第六章:高精度模拟滤波器设计 本章涵盖了连续时间(CT)和离散时间(DT)滤波器的设计方法。对于CT滤波器,我们着重分析了使用OTA-C结构的二阶滤波器设计,包括如何精确设置极点频率和品质因数(Q值)。对于DT滤波器,重点放在开关电容(SC)滤波器的设计,详细讨论了电荷注入误差、时钟前馈效应的缓解,以及如何设计高精度积分器。本章提供了一套系统的Sallen-Key、MFB和Biquad滤波器在不同工艺节点下的实现选择指南。 --- 第三部分:数据转换器与系统集成挑战 本部分将基础模块集成到复杂的系统级应用中,重点解决高速、高精度数据转换器中的关键挑战。 第七章:模数转换器(ADC)的拓扑结构与线性度 本章全面概述了主流ADC架构,如流水线(Pipelined)、逐次逼近寄存器(SAR)和Sigma-Delta($SigmaDelta$)架构。我们深入分析了影响ADC性能的关键因素:微分非线性(DNL)和积分非线性(INL)。针对SAR ADC,我们详细讨论了采样保持器(Sample-and-Hold, S/H)电路的低失真设计,以及电容数字转换器(CDAC)的开关泄漏和匹配问题。对于$SigmaDelta$调制器,我们探讨了高阶调零技术和噪声塑形在提高信噪比(SNR)中的作用。 第八章:数模转换器(DAC)的设计与校准 本章聚焦于DAC的精度实现。我们深入研究了电流舵DAC和电压舵DAC的结构,并分析了输入编码(如格雷码)对DNL的影响。本书着重介绍了失配误差的校准方法,包括静态校准(如数字查找表校正)和动态校准(如背景校准技术),以实现更高有效位数(ENOB)。我们还探讨了高速DAC中的毛刺(Glitch)能量抑制技术。 第九章:集成电路的版图设计与寄生效应管理 模拟电路的性能高度依赖于物理实现。本章是工程实践的关键。我们详细阐述了匹配(Matching)技术的实现,包括共质心布局、保护环和气体吸收器(Guard Ring)的设计。对于高速电路,我们讨论了串扰(Crosstalk)的最小化,包括导线宽度、间距和屏蔽层的选择。此外,本章还覆盖了工艺角对布局敏感性的分析,确保设计在所有工艺批次上都能满足性能指标。 --- 总结 本书提供了一个综合的、不偏不倚的视角来理解和设计现代模拟集成电路。它侧重于设计原理的深刻理解、关键性能指标的量化分析以及在实际CMOS工艺中的工程权衡。通过对噪声、反馈、匹配、以及数据转换器核心模块的系统性讲解,读者将获得构建和优化下一代高精度、高速度模拟系统的必备知识体系。本书的深度和广度使其成为任何从事高性能模拟IC设计领域专业人士的宝贵资源。

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