Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis

Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:Springer Verlag
作者:Wedell, R. 编
出品人:
页数:863
译者:
出版时间:
价格:$ 710.77
装帧:HRD
isbn号码:9783540286035
丛书系列:
图书标签:
  • X射线荧光分析
  • 材料分析
  • 光谱学
  • 化学分析
  • 物理学
  • 仪器分析
  • 元素分析
  • XRF
  • 手册
  • 分析化学
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具体描述

X-Ray Fluorescence analysis (XRF) is a reliable multi-elemental and nondestructive analytical method widely used in research and industrial applications. This practical handbook provides self-contained modules featuring XRF instrumentation, quantification methods, and most of the current applications. The broad spectrum of topics is due to the efforts of a large number of authors from a variety of different types of institutions such as universities, research institutes, and companies. The book gives a survey of the theoretical fundamentals, analytical instrumentation, software for data processing, various excitation regimes including gracing incidents and microfocus measurements, quantitative analysis, applications in routine and micro analysis, mineralogy, biology, medicine, criminal investigations, archeology, metallurgy, abrasion, microelectronics, environmental air and water analysis. It gives the basic knowledge on this technique, information on analytical equipment and guides the reader to the various applications. This practical handbook is intended as a resource for graduate students, research scientists, and industrial users.

好的,这里是为您准备的一份关于《Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis》的图书简介,内容详尽,并严格遵循了您的要求: --- 《实用X射线荧光分析手册》图书简介 这是一本深入探讨X射线荧光(XRF)分析技术在现代科学与工业领域中应用的权威性参考著作。 本手册旨在为光谱分析领域的专业人士、研究人员、技术工程师以及相关专业的学生提供一套全面、系统且高度实用的操作指南与理论基础。它不仅仅是一本理论教科书,更侧重于将复杂的XRF原理转化为实际可操作的步骤、方法和故障排除技巧,确保读者能够高效、准确地在日常工作中应用该技术。 第一部分:XRF基础原理与仪器概述 本书的开篇部分致力于为读者奠定坚实的理论基础,深入剖析X射线光谱学的核心概念。 第一章:X射线基础物理 本章详细阐述了X射线的产生机制,包括阴极射线管(X射线管)的工作原理、电子加速过程以及轫致辐射与特征辐射的形成。重点探讨了不同波长X射线的能量特性及其在物质相互作用中的物理过程,如光电效应、康普顿散射等,这些是理解荧光信号产生的基础。 第二章:XRF基本原理与理论 本章系统介绍了X射线荧光现象的本质。内容涵盖了激发源的选择、初级与次级X射线的相互作用。特别对基本参数法(Fundamental Parameters Approach)和经验校正法(Empirical Correction Methods)进行了深入的对比分析,并阐述了荧光产额与元素浓度之间的定量关系模型。此外,还包括了对吸收效应(Absorption Effects)和增强效应(Enhancement Effects)的精确数学描述和实际样品中校正这些效应的策略。 第三章:仪器构造与类型 本部分详细解析了主流XRF仪器的关键组成部分。内容涵盖了波长色散型XRF(WDXRF)和能量色散型XRF(EDXRF)的结构差异、各自的优势与局限性。重点讲解了X射线源(如铑靶、钼靶、钨靶)、准直器、单色器(针对WDXRF)、以及检测器(如正比计数管、闪烁计数管、硅漂移探测器SDD)的工作原理和性能指标。对现代高分辨率SDD在复杂基体分析中的应用潜力进行了深入评估。 第二部分:样品制备与分析流程 准确的分析结果始于恰当的样品制备。本手册将样品制备视为贯穿分析过程的关键环节,提供了针对不同形态样品的详尽SOP(标准操作规程)。 第四章:固体样品制备技术 针对粉末、矿石、陶瓷和聚合材料等固体样品,本章提供了精细的制样指南。内容包括: 1. 粉碎与研磨: 如何控制粒度分布以最小化颗粒大小效应(Particle Size Effect)。 2. 压片技术: 针对薄膜和颗粒负载样品的高压压制工艺,包括粘结剂的选择与用量控制。 3. 熔融技术(Fusion): 针对惰性或难溶性样品的助熔剂选择、加热曲线控制以及最终玻璃珠的质量控制标准。 第五章:液体与痕量样品处理 本章聚焦于溶液、悬浮液和痕量元素分析。详细介绍了薄膜支撑技术、溶剂蒸发法、以及如何利用专用载体膜(如聚酯薄膜)来捕获和测量溶液中的目标元素。针对痕量分析,探讨了预富集和化学分离技术在XRF前处理中的应用场景。 第六章:界面与表面分析 本章探讨了XRF在材料表面和薄膜厚度测量中的应用。讲解了低角度入射、X射线反射测量(XRR)的基础,以及如何通过改变激发能量来选择性地探测不同深度的材料信息,实现非破坏性的界面分析。 第三部分:定量分析与数据处理 本部分是手册的核心,侧重于将采集到的原始谱图转化为可靠的元素浓度数据,并解决了实际应用中的常见误差来源。 第七章:谱图采集与定性分析 本章指导读者如何优化仪器参数以获得最佳的信号/噪声比(S/N)。内容包括:激发电压和电流的优化、积分时间的设定、扫描模式(峰扫描与全谱扫描)的选择。详细讲解了峰识别技术,如何处理重叠峰(如次级荧光、背散射峰和衍射峰)的干扰,以及如何利用光谱数据库进行可靠的元素定性鉴定。 第八章:先进的定量方法 深入探讨了多种定量校准模型,确保分析的准确性: 1. 单点校准与多点校准(Working Curves): 何时使用,以及如何构建高精度的标准曲线。 2. 基体效应校正: 详细阐述了诸如拉夫逊-亨廷顿(Lachance-Traill)算法、克里森(Claisse-Quintin)方法等经验校正模型的数学原理及其在实际软件中的应用。 3. 内部标准法: 如何选择合适的内标元素,并将其纳入回归模型以补偿系统性误差。 第九章:仪器性能验证与质量保证/质量控制 (QA/QC) 本章强调了分析结果的可靠性。内容涵盖了: 仪器性能指标: 检出限(LOD)、定量限(LOQ)、分辨率和长期稳定性漂移的监测。 标准物质的应用: 如何选择和使用认证标准物质(CRM)进行日常检定和校准验证。 系统误差的排查: 针对计数率饱和、漂移、以及谱线轮廓变化的系统性故障诊断流程。 第四部分:特定应用领域实践 本书的最后一部分聚焦于XRF在多个关键工业和科研领域的实战应用案例,展示其多功能性和适应性。 第十章:冶金与材料科学中的应用 本章展示了XRF在合金成分控制中的核心作用,包括不锈钢、铝合金、铜合金的快速在线或离线分析。重点介绍了高精度测定微量合金元素(如Ni, Cr, Mo, V)和痕量杂质(如S, P)的方法。 第十一章:地质、矿产与环境监测 探讨了XRF在岩石、土壤、沉积物分析中的应用。详细说明了高温消解后对主量元素(Si, Al, Fe, Ca, Mg, Ti等)的分析流程,以及对稀土元素(REEs)和痕量有毒元素(As, Pb, Cd, Hg)的环境风险评估方法。 第十二章:消费品与材料合规性分析 本章专注于法规遵从性测试,特别是RoHS(限制有害物质指令)和REACH法规中对铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、六价铬(Cr(VI))等元素的筛查与定量。提供了快速筛选模式和高精度确认模式的操作指南。 第十三章:其他新兴应用 简要介绍了XRF在石油化工产品(如润滑油中的添加剂分析)、水泥、玻璃、食品安全(如矿物质含量)等领域的先进应用案例,展示了该技术未来的发展方向。 --- 总结: 《实用X射线荧光分析手册》是一本结构严谨、内容详实的工具书。它通过理论与实践的紧密结合,确保读者不仅理解“如何做”,更能理解“为何要这样做”。本书是任何需要依赖XRF技术进行准确、高效元素分析的实验室必备的案头参考资料。

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