緒論
第1篇金相顯微術
第1章金相顯微鏡的光學基礎與構造
1.1光學基礎
1.1.1反射和摺射定律
1.1.2光的性質和可視性
1.1.3偏振光
1.1.4光的衍射和乾涉
1.1.5幾何光學
1.2透鏡的光學缺陷和設計
1.2.1透鏡光學缺陷
1.2.2透鏡的設計和特性
1.3照明方式
1.3.1科勒照明
1.3.2明場照明
1.3.3暗場照明
1.3.4新型無限遠光學係統
1.4性能參數
1.4.1衍射與分辨率
1.4.2有效放大倍率
1.4.3景深
1.4.4工作距離和視域範圍
1.5圖像記錄和處理及分析
1.5.1顯微照相
1.5.2視頻顯微術
1.5.3數字CCD顯微術
1.5.4圖像處理與定量分析
1.6金相顯微鏡的操作
1.6.1光源的調整
1.6.2光闌的調整
第2章金相試樣的製備
2.1金相試樣的製備步驟
2.1.1取樣和鑲嵌
2.1.2研磨與拋光
2.1.3浸蝕
2.1.4現代金相樣品製備技術概述
2.2常用浸蝕劑顯示金相組織舉例
2.2.1硝酸酒精浸蝕劑
2.2.2苦味酸浸蝕劑
2.2.3LB染色浸蝕劑
2.2.4Klemm浸蝕劑
2.2.5Ber’aha浸蝕劑
2.2.6Lepera浸蝕劑
第3章相位襯度顯微鏡
3.1相位襯度顯微術原理
3.2相襯顯微鏡的光學設計
3.3金相顯微鏡和生物顯微鏡光學布置的差異
第4章偏振光顯微鏡
4.1偏振光的反射特徵
4.2反射式偏振光顯微鏡的光學布置和使用
4.3應用舉例
4.3.1各嚮異性組織的顯示
4.3.2非金屬夾雜物的鑒彆
4.3.3復閤夾雜物的定性鑒彆
第5章微分乾涉襯度顯微鏡
5.1DIC光學係統
5.2DIC圖像的形成
5.3DIC圖像與其他成像方式圖像的比較
第6章共聚焦激光掃描顯微鏡
6.1共聚焦成像的光學原理
6.2影響共聚焦圖像質量因素
6.3共聚焦顯微鏡的功能和應用
第2篇x射綫衍射分析
第7章x射綫物理學基礎
7.1X射綫衍射分析發展簡史
7.2X射綫本質及其波譜
7.2.1X射綫本質
7.2.2X射綫譜
7.3X射綫與物質相互作用
7.3.1X射綫散射
7.3.2X射綫真吸收
7.3.3X射綫衰減規律
7.3.4X射綫吸收效應的應用
7.4X射綫防護
第8章x射綫衍射方嚮
8.1晶體幾何學
8.1.1晶體結構—
8.1.2晶體投影
8.1.3倒易點陣
8.2布拉格方程
8.2.1布拉格方程
8.2.2布拉格方程的討論
8.2.3倒易空間中的衍射條件
8.3厄瓦爾德圖解
8.3.1厄瓦爾德圖解
8.3.2厄瓦爾德圖解示例
第9章x射綫衍射強度
9.1單個晶胞散射強度
9.1.1單個電子散射強度
9.1.2單個原子散射強度
9.1.3單個晶胞散射強度
9.2單個理想小晶體散射強度
9.2.1乾涉函數
9.2.2衍射疇
9.3實際多晶體衍射強度
9.3.1實際小晶粒積分衍射強度
9.3.2實際多晶體衍射強度
9.3.3多晶體衍射強度計算方法
第10章x射綫衍射方法
10.1相照法
10.1.1德拜一謝樂法
10.1.2聚焦法
10.1.3針孔法
10.2衍射儀法
10.2.1測角儀
10.2.2計數器
10.2.3單色器
10.3測量條件
10.3.1試樣要求
10.3.2影響測量結果的因素
10.3.3測量條件示例
第11章多晶物相分析
11.1標準卡片及其索引
11.1.1卡片介紹
11.1.2索引方法
11.2定性物相分析
11.2.1手工檢索
11.2.2計算機檢索
11.2.3其他問題
11.3定量物相分析
11.3.1基本原理
11.3.2分析方法
11.3.3其他問題
第12章晶體結構與點陣參數分析
12.1晶體結構識彆
12.1.1基本原理
12.1.2立方晶係指標化
12.1.3其他問題
12.2點陣參數測定
12.2.1德拜法誤差來源
12.2.2衍射儀法誤差來源
12.2.3消除係統誤差方法
12.3晶體結構模型分析
12.3.1原理與方法
12.3.2其他問題
第13章應力測量與分析
13.1測量原理
13.1.1內應力分類
13.1.2測量原理
13.2測量方法
13.2.1測量方式
13.2.2試樣要求—
13.2.3測量參數
13.3數據處理方法
13.3.1衍射峰形處理
13.3.2定峰方法
13.3.3誤差分析
13.4三維應力及薄膜應力測量
13.4.1三維應力測量
13.4.2薄膜應力測量
第14章衍射譜綫形分析
14.1譜綫寬化效應及捲積關係
14.1.1幾何寬化效應
14.1.2物理寬化效應
14.1.3譜綫捲積關係
14.2譜綫寬化效應分離
14.2.1強度校正與K。雙綫分離
14.2.2幾何寬化與物理寬化的分離
14.2.3細晶寬化與顯微畸變寬化的分離
14.3非晶材料x射綫分析
14.3.1徑嚮分布函數
14.3.2結晶度計算
14.4小角X射綫散射分析
14.4.1基本原理
14.4.2吉尼葉公式及應用
第15章多晶織構測量和單晶定嚮
15.1多晶體織構測量
15.1.1織構分類
15.1.2極圖及其測量
15.1.3反極圖及其測量
15.1.4三維取嚮分布函數
15.2單晶定嚮
15.2.1單晶勞厄相的特點
15.2.2單晶定嚮方法
第3篇電子顯微分析
第16章透射電子顯微鏡的原理和構造
16.1入射電子在固體樣品中所激發的信號及其體積
16.1.1激發的信號
16.1.2電子柬激發體積
16.2透射電子顯微鏡的構造
16.2.1電子波長
16.2.2電子透鏡
16.3成像方式和變倍原理
16.4透射電子顯微鏡的理論分辨本領極限
第17章透射電子顯微鏡的樣品製備
17.1錶麵復型技術概述
17.2質厚襯度原理
17.2.1單個原子對入射電子的散射
17.2.2質厚襯度成像原理
17.3一級復型與二級復型
17.3.1塑料一級復型
17.3.2碳一級復型
17.3.3塑料一碳二級復型
17.4抽取復型
17.5粉末樣品
17.6薄膜樣品的製備方法
17.6.1直接製得薄膜樣品
17.6.2大塊晶體樣品製成薄膜的技術
17.6.3聚焦離子束方法
第18章電子衍射和衍襯成像
18.1電子衍射與X射綫衍射的比較
18.2衍射産生的條件
18.3電子衍射幾何分析公式及相機常數
18.4選區電子衍射的原理及操作
18.5多晶電子衍射花樣的標定及其應用
18.5.1多晶衍射花樣的産生及幾何特徵
18.5.2多晶電子衍射花樣的主要應用
18.6單晶電子衍射花樣的分析
18.6.1單晶電子衍射花樣的幾何特徵和強度
18.6.2單晶電子衍射花樣的標定方法
18.6.3單晶電子衍射花樣的應用
18.7復雜電子衍射花樣的特徵和識彆
18.7.1高階勞厄區斑點
18.7.2超點陣斑點
18.7.3孿晶衍射花樣
18.7.4二次衍射斑點
18.7.5菊池衍射花樣
18.8衍射襯度成像原理及應用
18.8.1透射電子像襯度的分類
18.8.2衍襯成像的方法和原理
18.8.3衍襯運動學理論
18.8.4衍襯成像的應用舉例
18.8.5透射電子顯微鏡動態觀察
第19章分析電子顯微鏡
19.1分析電子顯微鏡特點
19.2高分辨電子顯微術的基本原理
19.2.1電子散射和傅裏葉變換
19.2.2高分辨像形成過程描述的兩個重要函數
19.2.3謝爾策欠焦
19.2.4弱相位體高分辨像的直接解釋
19.3薄膜樣品的X射綫能譜分析
19.3.1薄樣品分析原理
19.3.2薄樣品厚度的判據
19.3.3薄樣品的空間分辨率
19.3.4薄樣品的檢測靈敏度
19.4微衍射花樣與會聚束電子衍射
19.4.1微衍射花樣
19.4.2會聚束電子衍射
19.4.3電子能量損失譜
19.4.4分析電子顯微術應用舉例
19.4.5分析電子顯微鏡的進展及其分析新技術簡介
第20章掃描電子顯微鏡
20.1掃描電子顯微鏡的工作原理和構造
20.1.1工作原理
20.1.2構造
20.2掃描電子顯微鏡的像襯度原理及其應用
20.2.1錶麵形貌襯度的原理
20.2.2錶麵形貌襯度改善的電子減速技術
20.2.3原於序數襯度原理
20.2.4二次電子和背散射電子任意混閤的ExB技術
20.2.5掃描透射電子顯微術
20.3電子背散射衍射分析及其應用
20.3.1背散射電子衍射工作原理和儀器結構
20.3.2電子背散射花樣晶體取嚮和織構分析原理
20.3.3晶體取嚮的EBSD測定舉例
第21章電子探針X射綫顯微分析儀
21.1電子探針的分析原理和構造
21.1.1分析原理
21.1.2構造
21.2電子探針的分析方法和應用
21.2.1分析方法
21.2.2定量分析基本原理簡介
21.2.3應用
思考題與練習題
附錄
參考文獻
· · · · · · (收起)