细说液晶与纯平显示器选购使用及检修窍门

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出版者:科学出版社
作者:陈玉仑
出品人:
页数:556
译者:
出版时间:2002-9-1
价格:50.0
装帧:平装(无盘)
isbn号码:9787030107862
丛书系列:
图书标签:
  • 液晶显示器
  • 纯平显示器
  • 显示器选购
  • 显示器使用
  • 显示器检修
  • 电子技术
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  • 显示技术
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具体描述

电子产品维修与技术前沿探索:深度解析与实战指南 本书旨在为电子技术爱好者、维修工程师以及对现代显示技术充满好奇的读者,提供一套全面而深入的、超越基础范畴的专业技术读物。 本书聚焦于当前电子设备中几个关键且快速迭代的技术领域,从底层原理到复杂的系统集成,再到前沿技术的发展趋势,力求构建一个立体化的知识图谱。 --- 第一部分:现代数字电路与信号处理的底层逻辑 本部分深入剖析了构成现代电子设备核心的数字电路设计与高速信号处理技术,重点关注那些影响设备性能与稳定性的关键环节。 第一章:CMOS集成电路的精细化设计与制程演进 本章详细阐述了超大规模集成电路(VLSI)中的关键设计范式,包括亚纳米级制程下的功耗管理策略。我们将探讨静电放电(ESD)防护电路的最新架构,以及如何通过布局布线优化来有效抑制串扰和电磁干扰(EMI)。内容涵盖了低压差(LDO)线性稳压器在高速数字系统中的应用,以及开关模式电源(SMPS)在瞬态响应优化方面的最新研究成果。我们还将解析同步时钟分配网络(Clock Distribution Networks)的设计挑战,包括时钟抖动(Jitter)的量化分析与抑制技术。 第二章:高速数据传输接口与总线协议的深度解析 本章侧重于现代电子设备中不可或缺的高速数据通道。详细介绍了PCIe Gen 5/6的物理层结构、均衡技术(如CTLE、DFE)的数学模型及其在实际链路中的应用。对于DDR内存接口,本书不仅讲解了时序参数(Setup/Hold Time),更深入探讨了内存控制器(Memory Controller)中的Fly-by架构与拓扑优化,以及如何通过T-Topology和Stub匹配来保证信号完整性。此外,对USB-C/Thunderbolt协议栈的底层物理层信号编码与握手流程进行了详尽的图解和分析。 第三章:FPGA与可编程逻辑在系统原型中的角色 本章聚焦于现场可编程门阵列(FPGA)的内部结构,包括查找表(LUT)、锁相环(PLL)和延迟锁定环(DLL)的工作原理。我们将展示如何使用硬件描述语言(HDL)实现高性能的数字信号处理(DSP)算法,例如快速傅里叶变换(FFT)的流水线化设计。书中提供了大量的实践案例,涉及如何利用FPGA进行高速数据采集系统的原型验证和定制化接口的开发。 --- 第二部分:高级电源管理与热力学工程 电子系统稳定运行的基石在于可靠的电源供给与高效的热量导出。本部分将电源设计提升到系统级可靠性的高度进行探讨。 第四章:多相降压转换器的动态负载响应控制 本章不再停留于基础的PWM/PFM控制,而是深入研究数字多相降压(Multi-Phase Buck Converter)的控制算法。详细分析了峰值电流模式、平均电流模式以及迟滞控制模式的优劣。重点讨论了如何利用先进的瞬态响应预测算法,结合数字控制环路,实现对CPU、GPU等重负载瞬态功耗变化的毫秒级甚至微秒级快速补偿,确保电压轨道的稳定裕度。 第五章:电磁兼容性(EMC)与屏蔽设计的高级技巧 本书提供了超越标准测试要求的EMC设计策略。内容包括:如何精确建模电源平面上的电流回流路径,从而最小化环路面积引起的辐射干扰;信号完整性与电源完整性(SI/PI)的耦合分析,特别是电源噪声对敏感模拟电路性能的影响。书中还探讨了迷迭香(Spread Spectrum Clocking)技术在降低特定频率 EMI 峰值上的有效性,并展示了多层PCB结构中地线和电源线的耦合阻抗计算方法。 第六章:现代电子器件的热管理与可靠性分析 本章关注于半导体封装级别的热量导出。除了传统的散热片设计,本书引入了热管(Heat Pipe)、蒸汽腔(Vapor Chamber)的工作原理及其在紧凑型设备中的集成技术。对半导体材料的热阻模型进行了深入的建模,并探讨了基于有限元分析(FEA)的散热设计验证流程,确保器件在极限工作条件下的寿命预测准确性。 --- 第三部分:新型传感技术与机器视觉系统集成 本部分聚焦于信息采集的前沿技术,特别是面向物联网(IoT)和智能系统的各类传感器及其数据融合处理。 第七章:高精度MEMS传感器的数据采集与噪声抑制 本章详述了微机电系统(MEMS)陀螺仪、加速度计的内部结构与工作原理,特别关注了温度漂移补偿算法的设计。针对低信噪比(SNR)环境下的传感器数据,本书介绍了卡尔曼滤波(Kalman Filtering)及其扩展形式(EKF, UKF)在状态估计中的应用,并提供了实际代码示例用于传感器融合,以提高定位和姿态估计的精度。 第八章:CMOS图像传感器(CIS)技术与计算摄影学基础 本书详细解析了现代CIS像素结构,包括背照式(BSI)技术如何提高量子效率。在图像处理方面,我们跳出基础的去马赛克(Demosaicing),转而探讨了高动态范围(HDR)成像技术,如多重曝光合成、局部色调映射(Local Tone Mapping)算法的实现细节。此外,还涉及了部分基于深度学习的图像增强与去噪方法在嵌入式系统中的初步部署。 第九章:非接触式测量与光谱分析入门 本章介绍了几种新兴的非接触式测量方法,例如激光多普勒测速(LDV)的基本原理,以及如何利用光纤耦合技术实现对材料表面微小形变的实时监测。在光谱分析领域,本书概述了傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)的光路设计,并探讨了如何利用近红外(NIR)光谱数据进行物质成分的快速无损识别。 --- 第四部分:系统级维护、故障诊断与专业工具使用 本部分是理论与实践的桥梁,提供了一套结构化的故障排除框架,并对专业维修工具的使用进行了深入的指导。 第十章:系统级故障的逻辑诊断流程与故障树分析 本书强调“自上而下,局部验证”的诊断思路。详细介绍了如何利用系统级指标(如电源轨纹波、时钟频率偏差、I/O信号眼图)作为初步判断点。内容包括故障树(Fault Tree Analysis)的构建方法,用于系统性地分解复杂故障,并提供了针对特定系统(如高密度服务器主板、工业控制单元)的典型故障模式案例分析。 第十一章:示波器与逻辑分析仪的高级功能应用 本章超越了基础的波形观察,重点讲解如何利用示波器进行阻抗匹配分析(TDR/TDT)、抖动分析和眼图测量。内容覆盖了去嵌入(De-embedding)技术在补偿探头和电缆对信号失真的校正中的应用。对于逻辑分析仪,本书指导读者如何设置复杂的触发条件,捕获间歇性或握手失败事件,并进行协议解码以定位通信错误。 第十二章:焊接技术与微电子封装的修复挑战 本章针对BGA、QFN等现代表面贴装器件的返修技术,提供了详细的温控曲线建议和助焊剂的选择指南。特别探讨了在超小间距器件(如0.4mm Pitch BGA)返修时,如何使用真空吸拾和精确对位系统来保证焊接的可靠性,以及对已修复元件进行X射线检测的验收标准。 --- 本书适合人群: 具有一定电子基础知识,渴望深入理解现代电子系统工作原理的工程师。 专注于产品设计、信号完整性分析、电源管理领域的研发人员。 致力于提升故障诊断和高精度电子测量技能的维修技术专家。 本书的核心价值在于,它不仅仅是知识的堆砌,更是一套将前沿理论与严谨的工程实践相结合的实战手册。 它致力于培养读者“看见”看不见的信号、预判潜在的系统风险,并掌握应对复杂电子问题的能力。

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