具体描述
本书系统完整地介绍了使用万用表对17类共112种电子元器件进行检测的实用方法,并给出了部分实测数据。这17类元器件包括:电阻器类;电容器类;电感器、变压器、磁头及电机类;二级管类;三级管类;场效应管类;晶闸管类;继电器类;开关类;电声器件类;石英晶体及滤波器类;光电器件和霍尔元件类;延尺线类;555时基电路、运算放大器、反相器及彩电集成电路类;集成稳压器类;高频器件类;显示器件类等。为了使读者加深理解和正确运用检测这些元器件的方法,书中首先对元器件的性能参数作了简要介绍。对于某些较新的电子元器件,还给出了典型应用电路举例。对于一些具有可修复性的元器件,在阐明检测方法之后,视情况介绍了常用的修理或代换方法。
本书的突出特点是具有实用性、系统性、资料性和启发性。很适合广大电子爱好者在电子制作、维修实践中使用,也可供电子工程技术人员在专业技术工作中参考。
作者简介
目录信息
第二章 电容器类
第三章 电感器、变压器、磁头及电机类
第四章 二极管类
第五章 三极管类
第六章 场效应管类
第七章 晶闸管(可控硅)类
第八章 光电器件和霍尔元件类
第九章 继电器类
第十章 开关类
第十一章 电声器件类
第十二章 石英晶体及陶瓷滤波器类
第十三章 延迟线类
第十四章 555时基电路、运算放大器、反相器和彩电集成电路类
第十五章 集成稳压器类
……
· · · · · · (收起)
读后感
用户评价
这本书的封面设计得非常朴实,油墨的颜色有点偏暗,可能是为了突出内容的专业性,但老实说,第一次在书店看到它时,我差点错过了。我当时是在找关于电路基础知识的书,翻开目录,发现它几乎把所有篇幅都给了“万用表”这个工具,这让我有点吃惊。我原本以为它会涵盖更多关于电路原理、元器件符号识别的入门知识,但这本书似乎完全聚焦于“如何使用万用表”这个核心技能上。内容结构非常严谨,从万用表的结构组成、基本原理讲起,一步步深入到电阻、电容、电感、二极管、三极管等各类元器件的静态和动态测试方法。对于我这种初学者来说,光是理解万用表上的那些档位旋钮和接口定义,就已经花了不少时间。书里对每一个测试步骤都配有详细的图示和文字说明,细节之处处理得非常到位,比如测量电阻时要确保断电、测量二极管时要注意正负极方向等,这些都是教科书上可能一笔带过,但实际操作中却极其关键的环节。不过,书里对高级测量技巧,比如如何利用万用表进行波形观察或频率测量(如果表具有此功能的话),似乎没有太多的篇幅去介绍,更像是为电气维修入门者量身定做的一本“操作手册”。整体感觉,它是一本非常实用的工具书,目的性极强,就是教你如何用好手中的万用表。
阅读这本书的过程,更像是一次细致入微的技能训练,而不是轻松的知识汲取。我尤其欣赏作者在描述那些细微操作时的那种近乎偏执的严谨性。比如,在讲解如何测量一个电解电容的漏电流时,书中详细描述了如何选择合适的量程、如何预估一个合理的测试时间,甚至提到了不同品牌万用表在处理高阻值测量时可能出现的读数漂移现象。这些内容,你在网络上随便搜索一下“万用表测电容”可能只能得到一个简单的步骤列表,但这本书却把这些“经验之谈”都系统地整理出来了。它没有用太多复杂的数学公式来吓唬读者,而是完全立足于实际操作层面,让你感觉手边就放着一个万用表,跟着书上的步骤一步步来就能完成任务。我尝试着按照书中的指南去测试了家里一些旧电子设备里的零件,效果立竿见影。唯一的遗憾是,对于那些集成电路(IC)内部参数的测试,比如测量芯片的引脚电压或判断其工作状态,书中涉及得比较少,更多地停留在分立元器件的层面。如果你是想深入到数字电路故障诊断的层面,这本书的知识深度可能需要你再搭配其他更偏向于逻辑分析和示波器使用的书籍。但作为万用表入门和中级应用指南,它无疑是相当称职的。
这本书的排版和插图质量是值得称赞的。尽管内容偏向技术手册,但字体大小适中,图文的对应关系非常清晰,即使是初次接触电子测量的人,也能很快将书上的示意图与手中的仪器对应起来。我特别欣赏作者在不同测量场景下对“安全注意事项”的强调,每当涉及到交流电或高压测试时,都会用醒目的边框或粗体字标出风险提示。这体现了作者对读者安全负责的态度。不过,如果能加入一些关于如何选购不同档次万用表的指南,那就更完美了。例如,在测量高频信号时,普通万用表的输入阻抗和电容效应可能会引入误差,如果书中能对比不同规格万用表在特定测量中的表现差异,那就更具指导意义了。目前来看,它更像是一本“如何使用你已有的这个通用万用表”的权威指南,而不是一本“如何根据你的需求选择最合适的测量工具”的选购手册。总而言之,如果你手头有一台万用表,并且想知道如何用它来验证手头电阻、电容、晶体管的基本功能,这本书是绝对的宝典,但如果你想了解更复杂的信号分析和集成电路调试,你可能需要寻找更专业的示波器或逻辑分析仪的配套资料。
当我拿起这本书时,我期待看到更多关于故障排除的案例研究,但实际上,它提供的更多是“功能性测试”的指南。比如,测试一个变压器的初级和次级线圈是否有短路或开路,书中的步骤清晰无比,但如果涉及到判断变压器是否“性能下降”,比如漏磁严重或空载电流过大,这本书就没法帮上什么忙了。它更擅长于判断一个元器件是“好”还是“坏”,而不是判断它“好到什么程度”。这种二元判断的测试方法,在快速的维修流程中非常高效,但在追求极限性能的研发或高保真领域,可能需要更精密的仪器配合。我注意到,书中对数字万用表和指针万用表的区别讲解得非常透彻,特别是对于指针表那种动态响应速度的描述,读起来很有味道,仿佛能看到指针摆动的轨迹。但对于现代电子设备中越来越常见的SMD(表面贴装器件)的测试,书中的方法似乎稍微有些保守,可能需要使用者自己根据贴装的难度进行一定的技巧调整。总的来说,这本书就像是给一位经验尚浅的电工师傅配发的一把瑞士军刀,功能齐全,但瑞士军刀毕竟不能替代一台专业的大型诊断设备。
这本书的叙事风格非常“工程师化”,直截了当,没有冗余的背景介绍或历史回顾,每一页几乎都在告诉你“做什么”和“怎么做”。我特别喜欢它对“异常情况处理”的章节安排。例如,当万用表读数显示“OL”(超量程)时,作者不仅解释了这是什么意思,还列出了三种可能的原因——一是元器件本身损坏,二是量程选择错误,三是接触不良。然后,针对每一种原因,他又提供了一套排除故障的流程。这种由果溯因的分析方式,对于解决实际问题非常有帮助。我过去常常在测试不准时抓耳挠腮,现在明白了,很多时候问题并不出在元器件本身,而是出在测量方法上。这本书成功地将“测量”这个行为解构成了可以被重复和验证的标准化步骤。此外,书中还穿插了一些关于万用表探针保养和校准的建议,虽然这些听起来非常基础,但却是保证长期准确性的基石。这本书的优点在于它的实用主义,缺点也在于此——它几乎不谈“为什么”要这么做,只告诉你“这样做”会得到什么结果。对于那些追求原理深度学习的人来说,可能会觉得意犹未尽。